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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

DFN34pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.95mm
适配芯片尺寸：18*18mm
芯片厚度：0.5mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖弹片测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
芯片厚度：0.6mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: DFN8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻盖弹片老化测试座

DFN8老化测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3.3*3.3mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.5mm-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.2*2.0mm
更多 +

: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座

DFN5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座

DFN8pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: DFN8pin-2.0mm-8×8mm翻盖双层板烧录座

DFN8pin芯片双层板烧录座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：2.0mm
芯片尺寸：8×8mm
更多 +

: 定制DFN14pin-0.4mm-2X3mm合金翻盖测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：2×3mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.65mm-2.8x3mm合金翻盖测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片尺寸：2.8*3mm
更多 +

: 定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

DFN6pin芯片探针老化座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.1×0.7mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.5mm-2.3x2.5mm合金翻盖测试座(需开窗）

DFN13pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.3×2.5mm
更多 +

: 定制DFN4pin-1.05×0.65×0.45mm电容测试座

DFN4pin封装电容测试座规格参数
封装类型：DFN
引脚：4pin
电容尺寸：1.05×0.65×0.45mm
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: 定制DFN10pin-0.5mm-3.2x2.5mm塑胶翻盖测试座

DFN10pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3.2×3.5mm
更多 +

: 定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座

DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.6mm
芯片尺寸：5×6mm
芯片厚度：0.75mm
更多 +

: 定制QFN80pin-0.5mm-6X6mm翻盖合金测试座

QFN80pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：6×6mm
更多 +

: WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座

DFN8pin转USB接口芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN8/QFN8/WSON8通用
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：6×8mm
更多 +

: 定制DFN8-1.27 4.9x6合金翻盖测试座

适配IC尺寸4.9*6mm，间距1.27，单pin电流5A
没有其他的测试要求，做成开尔文测试方式
更多 +

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