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: DFN6-0.65(2*2)下压探针芯片老化测试座

工厂直供 DFN6测试座WSON6-0.65转接座QFN6 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发，测试座种类齐全各种封装保证品质，性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN6-0.65 ANDK自有品牌，大量现货当天发！...
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: QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.8转接座QFN84*3mm下压探针老化座
鸿怡工厂直销欢迎批发型号齐全，实惠天下！性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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: QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.5转接座QFN8 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发型号齐全，质优价廉！性价比高！
下压探针测试座，寿命长、可耐高温 DFN8-0.5
ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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: SOP38-0.5下压弹片芯片老化测试座

SSOP38 芯片测试座 ots38-0.5-02 弹跳镀金双触点 IC老化座厂家
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！下压弹片老化座，sop38（38）-0.5大量现货当天发！【0.5间距/空座不带转接板】
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: QFN84-0.4(10*10)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN84老化座 0.4间距翻盖弹片测试座适配器编程座厂家
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，QFN84-0.4大量现货当天发！【0.4间距/不带板】
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: QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN76 老化座 0.4间距翻盖弹片测试座适配器烧写座
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，QFN76-0.4 HMILU自有品牌，大量现货当天发！【0.4间距/不带板】
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: EMCP162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座

集成电路应用功能验证测试可根据用户要求定做各种阵列的socket EMCP162/186下压弹片转20PIN芯片测试座安卓手机数据恢复专用
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: SSOP20(28)-0.65下压弹片IC测试座

本款烧录座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、20PIN；
引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引脚）宽度4.4mm
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: SOP20(28)-0.65芯片老化测试座

绝缘体： PEI、PPS
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
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: QFN56-0.5翻盖弹片IC老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN56引脚间距0.5mm
测试座:QFN56-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN24-0.5翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN24，MLP24，MLF24 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN24翻盖单层板芯片烧录座

产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.5mm
测试座:QFN24-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN24-0.5 双层板芯片测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN24引脚间距0.5mm 测试座:QFN24-0.5 特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN20，MLP20，MLF20 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN12 引脚间距0.5mm
测试座： QFN12-0.5
特点：采用U型顶针，接触更稳定
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: QFP64下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN64引脚间距0.5mm
测试座：QFP64-0.5烧录座
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: QFP48下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP48引脚间距0.5mm
测试座：QFP48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP176芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP176的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP176、引脚间距0.5mm
测试座：QFP176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚
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: QFP44下压弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP44引脚间距0.8mm
测试座：QFP4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP80下压弹片芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对QFP80的IC芯片进行测试适用封装：TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm 测试座： IC234-0804-001 特点：适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm的IC
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