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: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多 +

: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
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: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: 定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
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: SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：3pin
适配IC本体尺寸：1.4mm
适配IC含引脚尺寸：2.4mm
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: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
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: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
更多 +

: QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座

QFP32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
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: SOP24(28)pin-0.65mm带接地耐高温下压弹片老化座

SOP24pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.65mm
本体尺寸：4.4mm
喊引脚尺寸：6.4mm
更多 +

: QFN24pin-0.5mm-4x4弹簧翻盖老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: QFP48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具

QFP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: QFP80pin-0.5mm-12*12mm芯片下压弹片老化座

QFP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：12*12mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm芯片翻盖弹片老化座

QFP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: QFP48pin-0.5mm-7×7mm翻盖弹片老化座-QFP老炼座

QFP48pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
喊引脚尺寸：9*9mm
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: QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座

QFN48pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：16.7*16.7mm
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: 定制QFN24pin-0.5mm（3.5×5.5mm）翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3.5×5.5mm
更多 +

: AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

车规级功率器件老化座规格参数：
适配IC封装:TO247
pin脚数：3pin
引脚中心距：5.44mm
更多 +

: 定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座

LGA芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：15×15mm
厚度：2.82mm
更多 +

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