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: BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA144pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配电源芯片尺寸：15*15mm
更多 +

: 定制QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座

QFN56pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：56pin
芯片引脚：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制QFN80pin-0.35mm-8x8mm合金翻盖探针芯片老化测试座

QFN80pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：8*8mm
更多 +

: 定制BGA28pin-0.35mm-2.734x1.656mm合金下压式芯片老化测试座

BGA28pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：2.734*1.656mm
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: 定制TSOP56pin-0.5mm-18.4x16.2mm翻盖探针芯片老化座

TSOP56pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：TSOP
芯片引脚：56pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：18.4*16.2mm
芯片厚度：2.76mm 更多 +

: USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3mm
更多 +

: 定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm
更多 +

: QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

QFN48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多 +

: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：3pin
适配IC本体尺寸：1.4mm
适配IC含引脚尺寸：2.4mm
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: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
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: QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座

QFP32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
更多 +

: SOP24(28)pin-0.65mm带接地耐高温下压弹片老化座

SOP24pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.65mm
本体尺寸：4.4mm
喊引脚尺寸：6.4mm
更多 +

: QFN24pin-0.5mm-4x4弹簧翻盖老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

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