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» 搜索:测试治具
定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座
DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.6mm
芯片尺寸:5×6mm
芯片厚度:0.75mm
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定制BGA225pin-0.8pin-12X12mm合金旋钮探针测试座
BGA225pin封装芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:12×12mm
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BGA641封装手机CPU测试架
测试治具
夹具工装0.4小间距
手机CPU芯片BGA641封装测试架
测试治具
BGA641,间距0.4,尺寸12.8*12.8,
手机CPU,最高频率1.5GHZ,温度电流无要求
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FBGA1580光电模块
测试治具
夹具测试socket插座探针连接器HMILU
1580pin光电模块,外形尺寸25.5 mm x 19.5mm. Pitch = 0.5 mm
下针277pin
频率500MHZ, 电流单pin满足1A即可,常温测试。
模块正面有器件,压块设计时需要避空,同时限位注意周边拼板切割的误差。
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定制BGA169-0.8 11x11翻盖合金
测试治具
性能参数:
工作频率:1.2GHZ;
工作温度:-55℃~175℃;
单PIN电流:1A;
功率:5W;
接触阻抗:≤100mΩ
射频信号:无
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定制BGA169-0.5(7x7)合金翻盖旋钮探针测试座老化座夹具socket
BGA169
测试治具
测试座老化座夹具socket
1、工作温度:-55℃~155℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN...
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定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针
测试治具
夹具测试架socket
QFP100芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:600Mhz
特点:①按芯...
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DDR3x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒
测试治具
测试夹具
产品简介:适用与DDR3,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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DDR4x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒
测试治具
测试夹具
产品简介:适用与DDR4,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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定制SOP48封装芯片翻盖探针测试架
测试治具
socket烧录座
产品简介:客户提供PCBA测试底板,拆卸SOP48封装芯片改装而成。
适配芯片:SOP封装,48PIN,间距0.5mm,含引脚尺寸12.6*8.3mm
温度常温
每单PIN电流过1A内
频率在1000MZH
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邮票孔模块 有无屏蔽罩兼容 测试socket 测试座 治具 夹具
邮票孔模块测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN...
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赛灵思 FBGA484 功能性
测试治具
测试架 检测夹具 测试socket
BGA484测试架
测试治具
测试夹具
性能参数:
接触方式:pogoPIN
机械寿命:10万+
工作频率:700MHZ;
工作温度:常温;
单PIN电流:1A;
接触阻抗:≤10...
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定制BGA676-1.0
测试治具
测试架夹具socket测试座
测试架(夹具)特点:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输...
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定制QFP100-0.5 14x14合金翻盖旋钮
测试治具
测试架治具
QFP芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:430Mhz
特点:①按芯片管...
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邮票孔模块测试座夹具治具烧录架socket
测试座(夹具)特点:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输...
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邮票孔模块 测试座 夹具 治具 工装测试架
产品简介:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,...
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定制QFN21-0.4(3x4)合金翻盖测试座夹具SOCKET
1、工作温度:-55℃~155℃@3000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
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定制BGA353-0.65(14x14)合金翻盖旋钮探针老化座
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽...
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定制DFN12-0.45(3×3)合金翻盖探针测试座
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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自动化手自一体 邮票孔模块 探针烧录治具夹具测试socket 机械图烧录
产品简介:适用与自动设备、人工两用的手自一体
测试治具
。
适配芯片:48PIN,1.27间距,邮票孔模块。
机械寿命:>10W次(可通过更换探针延长寿命)。
材质:PEEK陶瓷、镀镍...
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