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客制品-BGA676-1.0合金翻盖旋钮测试座
厂家定制各类芯片的测试座、老化座
本产品适用于BGA封装的676球芯片,间距1.0mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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BGA63弹片老化座 bga63封装IC 测试座 数据恢复工具 BGA63测试座
本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BG...
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BGA137下压弹片测试座67pin 不带板座子 bga封装芯片测试座 ANDK
本款下压老化座适配BGA封装137PIN的芯片,老化座实际下针62PIN
适配尺寸10.5mm*13mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、...
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BGA152/132翻盖
探针测试座
工厂新品热销,量大价优! 全新设计,采用探针结构,测试座寿命和芯片良率大大提高;
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客制BGA52-0.5(5*6)合金顶窗
探针测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座;
本款老化座,适配BGA52脚,间距0.5,尺寸5*6mm的芯片;
接触稳定,测试寿命长,品质保证;
可按需定制合金下压、合金翻盖等结构、材质的测试...
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BGA97-0.8(9X9mm)下压探针老化座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座; 本款老化座,适配BGA97脚,间距0.8,尺寸9*9mm的芯片; 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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PLCC16合金翻盖
探针测试座
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PLCC68翻盖旋钮合金
探针测试座
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客制-QFN64合金翻盖探针芯片测试座
根据客户需求定制QFN翻盖
探针测试座
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BGA87-0.8(7×10)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座;
本款老化座,适配BGA87脚,间距0.8,尺寸7*10mm的芯片;
接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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BGA272翻盖探针安国主控U盘测试夹具
BGA272翻盖
探针测试座
安国主控U盘测试夹具Flash测试座接受定制
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QFN8 DFN8 WSON8编程插座Pogo引脚探针适配器引脚间距0.5mm IC主体尺寸2x2mm翻盖式测试插座编程器
FN8 烧录座 QFN8-0.5 WSON8 MLP8 2×2mm 翻盖
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DFN8/WSON8/MLP8烧录座 0.5mm引脚间距/带PCB转板,转出DIP8插针可直插编程器通用锁紧座!
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DFN8测试座 WSON8-0.8转接座 QFN84*3mm 下压探针老化座厂家
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