- [行业资讯]2018年NAND Flash价格跌幅超过50%，背后原因为何？2018年10月29日 11:29
- 2018年即将过去，中国的存储市场也将迎来新的黄金时代。作为一家具有创新精神的企业，深圳市鸿怡电子有限公司早在2018年就顺应推出了针对flash芯片测试的falsh自动测试机台。其中针对固态硬盘，存储芯片的IC测试座、测试治具系列，也一直是鸿怡电子的重中之重产品。经过十几年的生产、销售，IC测试座产品已经走进了国内各大存储芯片设计、生产、封测企业。
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- [行业资讯]展望新的一年IC测试治具的发展趋势2018年10月26日 16:52
- IC测试治具在市场上的发展趋势是怎样的呢？下面我们一起来了解一下。 IC测试是整个IC设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，采用各类专业的IC burn-in/test socket、测试治具等工具可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。 在今年的IIC展上，鸿怡电子向客户重点展示的是eMMC测试治具、基于U盘FLASH万能通用测试架，以及内存/显存芯片测试治具、DDR内存条测试治具、用于FPC的BTB测试座等，通过专业化设计，帮助厂商提升测试的精确度，节约更高的
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- [鸿怡动态]鸿怡电子-国内高品质的IC测试座生产定制厂家2018年10月25日 15:43
- 现阶段的中国IC产业崛起速度如雨后春笋，相关配套产业链也逐步变得强大和完善。 拿一个在IC产业链上微小但又不可缺少的环节——IC测试socket举例，Socket是IC测试时经常要用到的治具，主要功能是实现IC引脚和测试PCB或者loadboard的电气性能连接。 在IC设计、封测、制造行业内的人都知道，原来的IC测试socket领域基本被美国的TI、WELLS和日本的yamaichi、3M、ENPLAS等企业垄断，价格高昂，拿非常普通的flash芯片
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- [行业资讯]什么是HAST（ 加速老化测试）?2018年10月23日 11:26
- 加速老化测试的定义和测试标准HAST高度加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数， HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。HAST测试标准 HAST是加速防潮测试的更加加速版本,与高温/高湿度测试（85C / 85％RH）相比，HAST会产生更多成分，接触
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- [鸿怡动态]高频IC测试座2018年10月22日 18:02
- 什么是高频功能测试座？随着半导体技术的快速发展，IC封装不断从内到外发生变化。包装内部正在更新更多的单位为毫米的单元格。包装尺寸越来越小。因此，新的重大挑战放在那些必须测试这些IC的人身上。频率和功能要求最高，同时封装焊盘和节距变得越来越小。在通用计算机中，IC频率在过去二十年中增加了一千倍。 10GB / s的数据频率传输正在变得流行。此外，更高的响应，现在测试座工程师团队和制造商公司需要面对一个重要的挑战：更高的频率。无线通信将进入微波场极端（高达35GHz或更高）。如何
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- [行业资讯]屏下指纹技术厂商大战愈演愈烈？2018年10月19日 14:30
- 自从2017年iPhone X全面屏手机面世，智能手机迎来了全面屏热潮。今年，全面屏的持续火热为屏下指纹识别带来发展机遇。 据了解，屏下指纹识别技术共有三大种类：光学式（optical）、电容式（capacitive）和超声波（ultrasonic） 。 目前，智能手机新功能的进步，基本都由苹果、三星等国外企业引领。而国内外屏下指纹识别领域中享有一定知名度的厂商有：汇顶科技、思立微、丘钛科技、欧菲科技以及新思（Synaptics ）。除此之外，京东方、思比科与印
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- [鸿怡动态]老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？2018年10月18日 18:15
- IC老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？下面小编为您讲解： 1、过充保护：过充电检测电压、过充电检测延迟时间、过充电解除电压。2、过放保护：过放电检测电压、过放电检测延迟时间、过放电解除电压。3、过流保护：充电过电流保护电流、充电过流检测延迟时间、充电过流解除延迟时间、放电过电流保护电流、放电过流检测延迟时间、放电过流解除延迟时间。4、短路保护：保护条件、外部电路短路、检测延迟时间、保护解除延迟时间。 5、温度保护：温度保护条件。5、温度保护：保护解除条件。6、内阻
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- [行业资讯]IC产品的质量与可靠性测试2018年10月17日 17:05
- 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的问题；可靠性（Reliability）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说质量（Quality）解决的是现阶段的问题，可靠性（Reliability）解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别，我们发现，Quality的问
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- [鸿怡动态]为什么IC测试座触点引脚镀层需要镀金？2018年10月15日 13:48
- 我们都知道，不论是开模的弹片IC测试座还是定制的顶针式IC测试座，他们分别的引脚触点镀层都是镀金的。那么，为什么IC测试座触点引脚镀层都需要镀金呢？
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- [鸿怡动态]CQFP84芯片功能测试座2018年10月13日 10:17
- 该产品是来自国外知名航空航天公司的询问。 他们在测试产品时遇到了困难，因为芯片在测试过程中需要面对各种测试环境，如振动，照明，高温和高压。 所用的测试材料不同，因此鸿怡电子根据客户的需求调整测试治具的材料，以满足客户不同环境的测试需求
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- [鸿怡动态]通俗的了解IC老化座和IC测试座间的区别？2018年10月11日 11:31
- 我们常说的IC测试座和老化座有什么区别呢?相信有很多朋友都不是很了解，下面鸿怡电子的小编给大家讲解下： 用一个不是很恰当的比喻 老化座像一个人(芯片)，躺在床上，一睡可能100天。100天后起床了(弹簧長时间变形)，所有床上的1，000弹簧需弹回原位置，不可有的高，有的低变了形。 测试座像酒店的床，30天，可能睡30个不同的人(芯片)。床单(接触点)会被客人磨损，讲究接触点的镀层艺术(耐磨)。 理论上，老化座的成本，贵过测试座。老化座用的是铍銅，测试座用的是磷青銅。铍
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- [鸿怡动态]定制射频IC测试座必须要知道的几点要素？2018年10月10日 17:14
- 经常接到客户的询盘，需要定制某款射频IC的测试座或是测试治具。这时我们的销售工程师不仅需要知道客户手中对应芯片的封装参数、测试频率、电流、温度等要求，还需要了解关于射频IC更详细的关于频率的插损、回损等参数。
那么，插损和回损是什么呢？
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- [行业资讯]IC测试（Wafer Level）知多少……2018年10月10日 09:46
- DFT设计是芯片设计过程中很重要的一个环节，其目的是为Wafer Level test提供高效快速的测试方法。Wafer Level test要测哪些内容呢，下面逐一展开描述。 Function Test（功能测试） 芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-at Fault，Open Fault，Bridge Fault等。 Stuck-At Op
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- [行业资讯]IC测试的分类2018年09月28日 10:56
- 集成电路芯片的测试具体包括设计阶段的设计验证、晶圆制造阶段的过程工艺检测、封装前的晶圆测试以及封装后的成品测试，贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程，在保证芯片性能、提高产业链运转效率方面具有重要作用。 设计验证，又称实验室测试或特性测试，是在芯片进入量产之前验证设计是否正确，需要进行功能测试和物理验证。 过程工艺检测，即晶圆制造过程中的测试，需要对缺陷、膜厚、线宽、关键尺寸等进行检测，属前道测试。 晶圆测试（Chip Probing，又称中测
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- [鸿怡动态]鸿怡电子中秋放假通知2018年09月21日 15:41
- 又是一年月圆时，鸿怡电子深深感谢您对我们的关注、信任与支持！无论现在，还是将来，我们都会不断学习与改进，以最高品质的IC测试座产品和最贴心温暖的服务，回报客户们对鸿怡电子的厚爱。
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- [行业资讯]芯片设计公司怎么充分利用IC测试量产数据？2018年09月20日 17:16
- 鸿怡电子可提供定制各类的IC测试治具，广泛应用于ODM/半导体FAE部门的IC验证，希望以后能够有机会在这方面能有更进一步的探讨和说明,给广大国内设计公司一些更具体的建议和帮助！
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC老化测试座的特点？2018年09月19日 18:00
- 鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket，可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC测试座测试探针的特性？2018年09月18日 17:57
- 大家都知道测试探针是IC测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。 鸿怡电子生产、定制的IC测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于QFN/QFP/LGA等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于BGA类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。 微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。适用IC间距：从0.3毫米到1.27毫米 测试弹簧探针长度短 减少电容、电感
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- [鸿怡动态]IC测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42
- 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制IC测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
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