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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: LGA14pin翻盖合金探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.5×3mm
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: 定制LCC44-1.1(16×18mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制BGA252-0.8_12×18合金翻盖旋钮探针测试座

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: 定制LCC76模块-0.9（20×20mm)合金翻盖探针测试座

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: BGA132/152翻盖弹簧针老化座

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: 定制LGA36PIN（只下针7个PIN）_0.5_4×4合金翻盖探针测试座

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: 定制BGA814-0.5-15X15X0.862合金翻盖旋钮探针测试座

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: 定制DDR96球测试架

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: 定制BGA292-0.8翻盖旋钮测试座

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: eMMC169_eMCP162_eMCP221三合一合金探针转SD卡测试座

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: 定制FPGA124Pin-1.27（45×45mm)核心板模块测试治具

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: 定制60PIN弹片微针模组

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: 定制30PIN弹片微针模组

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: 定制模块60PIN-1.27_30.7×40×2.75翻盖合金测试座

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: 定制LCC8-1.27_3.8×3.8翻盖合金探针测试座

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: 定制DFN4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座

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: 定制BGA484-1.0-21×21合金探针翻盖测试冶具

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: 定制QFN88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座

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: 定制模块60PIN-1.27_30.7×40×2.75翻盖合金测试座

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: 定制DFN14_0.52测试座

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