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定制
LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座
LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:5*5mm
一拖九工位测试座
更多 +
定制
QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座
QFN22pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:22pin
芯片引脚间距:0.86mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制
BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座
BGA72pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:72pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:12*12mm
更多 +
定制
LGA32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座
LGA32pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:19*12mm
双扣式手自一体测试座
更多 +
定制
BGA100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座
BGA100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:11*11mm
更多 +
定制
LGA193pin-1.0mm-23x23mm摄像传感芯片测试座
LGA193pin摄像传感芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:193pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:23*23mm
更多 +
定制
QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座
QFN芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.89mm
适配芯片尺寸:8.84*8.84mm
更多 +
定制
BGA331pin(实际下针188PIN)-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座
BGA331pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:331pin(实际下针188pin)
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:13*13mm
更多 +
定制
QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座
QFP128pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:128pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片本体尺寸:14*14mm
含引脚尺寸:16*16mm
更多 +
定制
DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座
DFN5pin芯片无磁测试座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:5pin
芯片引脚间距:0.45mm
适用芯片尺寸:2.2*3.5mm
更多 +
定制
LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座
LCC84pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:1.27mm
适用芯片尺寸:29.21*29.21mm
更多 +
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BGA252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座
BGA252pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:252pin
芯片引脚间距:0.8mm
适用芯片尺寸:13*13mm
更多 +
定制
LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座
LCC48pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:8.5*8.5mm
更多 +
定制
JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座
JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数:
适用芯片封装类型:SOP/JFP/OTS
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:1.9mm
适配芯片尺寸:10.5mm
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定制
晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座
5032晶振一拖16工位测试座规格参数:
晶振引脚:10pin
晶振引脚间距:1.0mm
晶振尺寸:5*3.2mm(5032)
一拖16工位测试座
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定制
BGA24pin-1.0mm-6x8mm塑胶翻盖晶振测试座
BGA24pin晶振测试座规格参数:
封装类型:BGA
引脚:24pin
引脚间距:1.0mm
适用芯片尺寸:6*8mm
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定制
17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座
金手指模块测试座规格参数:
模块引脚:17pin
模块引脚间距:1.54mm
模块尺寸:29*29mm
更多 +
定制
QFN60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座
QFN60pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:60pin
芯片引脚间距:0..55mm
适用芯片尺寸:12×6.6mm
更多 +
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QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座
QFN芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.4mm
适用芯片尺寸:4*4mm
更多 +
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模块15pin-2.0mm-12.2x12.9mm塑胶翻盖测试座
模块测试座规格参数:
模块引脚:15pin
模块引脚间距:2.0mm
适用模块尺寸:12.2*12.9mm
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