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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳...
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: 0402贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具镀金插座

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: LPDDR2-168平板电脑测试治具 BGA-168测试治具翻盖探针测试治具

LPDDR2-168平板电脑测试治具 BGA-168测试治具翻盖探针测试治具
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: DDR3×8开短路测试治具，DDR开短路测试治具

------定制各种DDR/GDDR/LPDDR测试治具（最少间距可做到0.3mm，根据客户提供的PCB板单独设计）
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: Iphone7 LCD TP连接器测试针模模块测试夹具

类型：Iphone7 LCD TP连接器针模
脚间距：与iphone7相同
结构：
连接器定制：是的
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: DDR4 内存颗粒测试治具一拖八 8位DDR4内存条测试夹具导电胶

工厂大量现货！采用DDR4内存条公板 , 兼容性好！ DDR4内存条测试夹具结构采用合金座头、合金限位框、导电胶结构，呈点状，寿命可达10万次！
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: DDR3 8位内存颗粒测试治具一拖八 DDR3内存条测试夹具导电胶

DDR3*8位内存颗粒测试治具一拖八 DDR3导电胶内存条测试夹具
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: CPU测试治具BGA837测试治具BGA定制测试治具BGA测试座IC治具

精密定制各类CPU测试治具、BGA测试座；
独创方法保证连接定可靠；采用进口探针和防静电材料制作；探针可以更换，维修方便；
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: 苹果排线测试系统空排测试解决方案 FPC测试夹具软排线测试治具

硬件/软件全部自有知识产权！IC夹具测试座历经市场检验，稳定可靠！测试寿命长！整套测试系统 = 收据采集仪器 + 排线测试夹具（多种型号可选配） + 电脑端软件...
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: QFN10（3*3）下压弹片测试座芯片适配座QFN10老化座0.5间距

鸿怡电子主要生产、销售各类IC测试座,IC测试夹具,老化测试座,高频测试座,BGA测试插座,贴片SOP测试插座等.测试座封装含概:BGA,,CSP,PGA,QFN,MLF,LGA,QFP,TSOP,SOP,PLCC,SOJ,TO等,并且可以根...
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: IC芯片测试治具 3UA78IC模块烧录座 1.0间距定制各类封装测试夹具

客制品-根据客户提供模块参数，定制模块测试座
18年定制测试座工厂
欢迎来图咨询定制
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: 客制品BGA一拖四测试治具

根据客户需求定制BGA一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的PCB板上
可批量测试/烧录四颗BGA芯片,省时省力
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: 最新LCD+TP CONNECTOR微针模组测试座

定位精度高；
采用进口高性能探针，使用次数超过30万次，
采用探针接触，避免了因使用MATING CONNECTOR造成的CONNECTOR压伤和锡裂；
用进口材料，高精度设备加工，使夹具经...
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: DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F：超过1600Mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
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: SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二测试治具

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...
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: BGA272翻盖探针安国主控U盘测试夹具

BGA272翻盖探针测试座安国主控U盘测试夹具Flash测试座接受定制
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: QFP100 IC测试治具POGOPIN接触式翻盖结构

应用集成：QFP100芯片;
结构：翻盖式接触式：
POGOPIN定制：是的;
manual或手动和自动作为一个整体，定位精确，操作方便，使用进口探针;
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: eMMC153/169 U盘探针测试夹具

eMMC U盘探针测试夹具
eMMC153/169测试座
eMMC socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的IC
常见IC尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18 <...
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BGA272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍...
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: SSD主控测试夹具 JM608主控测试

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