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QFN老化座 / Product Center

QFN28pin-0.7mm-6.0×6.0mm合金翻盖芯片测试座socket
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DFN8pin-0.65mm-3×3×0.75mm双扣式手自一体芯片测试座socket
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QFN23pin-0.5mm-4x3mm塑胶翻盖探针芯片老化测试座socket
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DFN8pin-1.27mm-6×8mm塑胶翻盖芯片测试座socket
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LCC8pin-1.27mm-3.8×3.8mm芯片翻盖老化测试座socket
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DFN6pin-1.5mm-2.7x3.4mm塑胶翻盖探针芯片测试座
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定制LCC32pin-1.27mm-14x11.5mmATE自动化测试座socket
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DFN8pin-0.65mm-5×5mm弹片式老化测试座,老炼测试夹具(新款-标准品)
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DFN6(实际下针9pin)-0.5mm-1.5×1.5mm合金翻盖式探针芯片测试座,芯片测试夹具
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定制LCC48pin-0.8mm-11×11×1.5mm合金探针测试座socket,芯片测试夹具
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定制QFN58pin-0.35mm-6×6mm合金下压探针芯片测试座socket,芯片测试夹具
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定制LCC6pin-1.4mm-7.69×5.54mm合金翻盖探针模块老化测试座
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定制QFN12pin-1.0mm-5.15×5.15mm塑胶翻盖芯片测试座
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定制QFN64pin-1.71mm-30.48x30.48m.0m合金双扣式芯片测试座
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定制QFN20pin-1.74mm-8X10mm塑胶翻盖老化测试座socket
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QFN16pin-0.8mm-4X4mm塑胶翻盖芯片测试座socket
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定制模块8pin-2.2mm-7.5x10mm合金翻盖测试座socket
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定制QFN28pin-0.4mm-3.5X3.5mm芯片测试座,QFN封装塑胶翻盖探针芯片老化座socket
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定制QFN24pin-0.45mm-4X4mm芯片测试夹具,QFN封装塑胶翻盖老炼测试座
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定制LCC68pin-1.27mm-24.13x24.13mm翻盖探针芯片测试座
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