- [行业资讯]鸿怡电子，告诉您芯片的HTOL测试是什么？2020年06月23日 17:55
- 在前面我们介绍了IC的可靠性试验的大致，那么IC在使用期的寿命测试中的HTOL是什么呢？ 使用期的寿命测试又包含高温工作寿命（HTOL）和低温工作寿命（LTOL），对于亚微米级尺寸的器件，热载流子效应对于器件寿命有着显著的影响，低温工作时相对比较苛刻，所以像存储器、处理器等纳米级别工艺的产品通常需要进行低温工作寿命测试。而对于0.1um以上的大多数模拟以及射频器件通常采用高温工作寿命进行评估。 进行HTOL（High Temperature Operation Life）测
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