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WLCSP烧录座读写夹具老化座socket带黄铜散热详细信息/Detailed Information

WLCSP烧录座读写夹具老化座socket带黄铜散热

WLCSP探针测试座
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:PEI;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:AC700V@1min;
6、接触电阻:≤100mΩ;
7、绝缘电阻:1000MΩ Min At DC 500V ;
8、频率≤800MHZ;
9、机械寿命:≥10W次;
订购热线:13631538587
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探针测试座(夹具)特点:

①翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式,单价低,交期快。
③采用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。




WLCSP烧录座

WLCSP测试座 WLCSP读写座 WLCSP老化座

采购:WLCSP烧录座读写夹具老化座socket带黄铜散热

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芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:2.633*3.184mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:PEI+PEEK
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芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:4pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:0.95*0.94mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK
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芯片引脚:20pin
引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:1.94*2.40mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:PEI+PEEK

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