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全新UFS153转USB3.0测试座 SM3350主控153芯片烧录测试老化SOCKET详细信息/Detailed Information

全新UFS153转USB3.0测试座 SM3350主控153芯片烧录测试老化SOCKET

产品名称:UFS153转USB3.0测试座
适配芯片规格:ufs153ball 间距0.5mm 尺寸11.5*13mm
测试座用途: 对UFS芯片进行读写,测试,烧录
订购热线:13631538587
立即咨询

UFS153转USB3.0测试座(SM3350主控)

 

产品简介:

1、翻盖双面弹(接触式),PCB可拆卸

2、下针66PIN

3、主控型号是:SM3350

4、高速读写,实测数据跟芯片密切相关以下数据为芯片的H2testw和SSD测试数据

规格尺寸

1、型号:UFS153

2、引脚间距(mm):0.5

3、脚位:66

4、芯片尺寸:11.5*13mm

实测数据:

读:192Mb/s

写:218Mb/s



UFS153转USB3.0座

UFS153转USB3.0座1

UFS153转USB3.0座2

UFS153转USB3.0座4

UFS153转USB3.0座6

UFS153转USB3.0座5

采购:全新UFS153转USB3.0测试座 SM3350主控153芯片烧录测试老化SOCKET

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