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: SOP16pin-1.27mm-10.3x10.315mm合金翻盖开尔文测试座

SOP16pin芯片开尔文测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
本体尺寸：7.5mm
含引脚尺寸：10.31 更多 +

: BGA100pin-0.65mm-8×8mm合金旋钮探针芯片测试座

BGA100pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：8*8mm
更多 +

: 射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座

射频模块77pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
射频模块引脚：77pin
射频模块引脚间距：1.5mm
射频模块尺寸：45*50mm
更多 +

: BGA77pin-1.27mm-9X15mm合金翻盖探针测试座

BGA77pin电源芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚77pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：9*15mm
更多 +

: 模块48PIN-1.27mm-21X16X2.5mm合金翻盖探针测试座

模块48pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
模块引脚：48pin
模块引脚间距：1.27mm
适配模块尺寸：21*16mm
模块厚度：2.5mm
更多 +

: QFP52pin-0.65mm-10x10mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

QFP52pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：52pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: 光耦芯片14pin-1.27mm-22x2mm合金旋钮翻盖测试座

光耦14pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片引脚：14pin
引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：22*27mm
芯片厚度：5mm
更多 +

: LGA30pin-0.5mm-5x6mm塑胶翻盖芯片测试座

LGA30pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*6mm
更多 +

: SOP20pin-0.5mm-5.1x4.9-014-KNH芯片老化测试夹具

SOP20pin芯片老化测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：（5.1*4.9mm）/（6.4*4.4mm）/（4.9*7...
更多 +

: QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座

QFN24pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 模块21pin-0.63mm-13.5x5mm合金旋钮翻盖测试座

模块21pin测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
引脚：21pin
模块引脚间距：0.63mm
适配模块尺寸：13.5*5mm
更多 +

: BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA25pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：25pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：6.25*6.25mm
更多 +

: BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA144pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配电源芯片尺寸：15*15mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm-5X5mm开尔文合金翻盖测试座

QFN20pin芯片开尔文测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: 开关电源芯片DFN4pin-5.5mm-014-KNL(8X3.8mm)老化测试座

开关电源芯片DFN4pin老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：4pin
芯片引脚间距：5.5mm
适配芯片尺寸：8*3.8mm
更多 +

: TO252-5L-1.27（本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座

TO252-5L探针老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.27mm
适配尺寸：5.5*6.5mm
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: DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm
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: BGA436pin-0.65mm-15X15mm合金旋钮翻盖芯片测试座

BGA436pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：436pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：15*15mm
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: 定制QFN80pin-0.35mm-8x8mm合金翻盖探针芯片老化测试座

QFN80pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：8*8mm
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: 定制EMMC153pin-0.5mm-11.5x13mm合金旋钮翻盖芯片测试座

EMMC153pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：EMMC
芯片引脚：153pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：11.5*13mm
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