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» 搜索:0.4mm
定制BGA64pin-
0.4mm
-4.4x4.05mm塑胶翻盖探针芯片测试座socket
BGA64pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:4.4*4.05mm
更多 +
定制DFN6pin-
0.4mm
-1.5x1.2mm芯片合金翻盖探针测试座
DFN6pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:1.5*1.2mm
更多 +
QFP128pin-
0.4mm
-14x14mm合金旋钮探针芯片测试座
QFP128pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFP
芯片引脚:128pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:14*14mm
更多 +
定制DFN6pin-
0.4mm
-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座
DFN6pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:1.1*0.7mm
更多 +
定制QFP80pin-
0.4mm
-12*12mm手自一体压合式芯片测试座
QFP80pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
结构:手自一体压合式
芯片封装形式:QFP
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:12*12mm
更多 +
定制QFN60pin-
0.4mm
-7*7mm合金旋钮翻盖探针测试座
QFN60pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:60pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制QFN20pin-
0.4mm
-3x3mm合金顶窗下压测试座
QFN20pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
定制QFN16pin-
0.4mm
-3x2mm芯片合金顶窗下压测试座
QFN16pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:3*2mm
更多 +
定制DFN13pin-
0.4mm
-3x3mm芯片合金翻盖探针测试座
DFN13pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:13pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
定制DFN14pin-
0.4mm
-2X2mm合金翻盖探针测试座
DFN14pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
定制WLCSP36pin-
0.4mm
-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座
WLCSP36pin晶振测试座规格参数:
晶振封装形式:WLCSP
晶振引脚:36pin
晶振引脚间距:
0.4mm
适配晶振尺寸:2.487*2.541mm
更多 +
定制QFP144pin-
0.4mm
-18.22x18.22mm塑胶旋钮翻盖测试座
QFP144pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFP
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:16*16mm
芯片含引脚尺寸:18*18mm
更多 +
定制QFN40pin-
0.4mm
-4x6x0.85mm塑胶翻盖测试座
QFN40pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:40pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适配芯片尺寸:4*6mm
芯片厚度:0.85mm
更多 +
定制QFP128pin-
0.4mm
-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座
QFP128pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:128pin
芯片引脚间距:
0.4mm
芯片本体尺寸:14*14mm
含引脚尺寸:16*16mm
更多 +
定制QFN32pin-
0.4mm
-4x4mm下压合金探针测试座
QFN芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:
0.4mm
适用芯片尺寸:4*4mm
更多 +
新款QFN32pin-
0.4mm
-4X4mm芯片下压烧录座
QFN32pin芯片烧录座规格参数:
芯片封装:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚:
0.4mm
适用芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制DFN14pin-
0.4mm
-2X3mm合金翻盖测试座
DFN芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:
0.4mm
芯片尺寸:2×3mm
更多 +
定制QFN88pin-
0.4mm
(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座
QFN88pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:88pin
芯片引脚间距:
0.4mm
芯片尺寸:10×10mm
更多 +
定制QFN100pin-
0.4mm
-12x12mm合金旋钮探针测试座
QFN芯片探针测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:
0.4mm
芯片尺寸:12×12mm
更多 +
定制WLCSP10pin-
0.4mm
- 1.649x1.483mm塑胶翻盖探针测试座
WLCSP10pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:WLCSP
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:
0.4mm
芯片尺寸:1.649*1.483mm
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