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» 搜索:芯片测试座socket
BGA488pin-1.9mm-51×51mm合金双扣旋钮芯片测试座—加散热铜块、风扇
BGA488pin
芯片测试座socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:488pin
芯片引脚间距:1.9mm
适配芯片尺寸:51*51mm
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定制QFN32pin-1.0mm-12x12mm合金旋钮翻盖
芯片测试座socket
QFN32pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:12*12mm
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定制BGA64pin-0.4mm-4.4x4.05mm塑胶翻盖探针
芯片测试座socket
BGA64pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:4.4*4.05mm
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定制BGA636
芯片测试座socket
夹具治具工装探针socket维修检测工具
定制BGA636
芯片测试座socket
夹具治具工装探针socket维修检测工具
产品简介:适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点:
①我司独有设计生产的老化探针,成本...
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[新闻中心]第三代半导体:SiC和GaN测试与应用,鸿怡电子半导体功率器件测试座的角色
2025年03月18日 14:32
随着新能源汽车、5G基站、数据中心等领域的快速发展,第三代半导体材料碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)凭借其优异的物理特性,正在逐步取代传统硅基功率器件。本文将从SiC/GaN模块的性能优势、测试挑战、核心测试项及方法等方面展开分析,并结合行业案例探讨IC/
芯片测试座socket
技术的创新方向。 一、SiC和GaN在大功率电源中的性能优势 与传统的硅基IGBT功率模块相比,SiC和GaN功率模块在以下方面展现显著优势: 1. 更高功率密度 SiC的禁带宽度(3.3 eV
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[新闻中心]国产光芯片崛起的背后:鸿怡电子光芯片高低温测试-测试座socket解决方案
2024年12月19日 11:23
光芯片作为光通信和光电子系统的核心,正逐渐吸引更多的关注。尤其是国产替代政策的推行,让国内厂商在光芯片领域有了更多发展契机。本文将深度解析光芯片的封装和应用,同时探讨光芯片测试的关键技术,尤其是在高低温测试中的要点以及裸Die芯片的区别与应用,最后剖析光
芯片测试座socket
的关键应用。 光芯片的工作原理主要基于光子学原理,即利用光的波动性和粒子性来传输和处理信息。其工作过程可以分为三个主要步骤:光发射、光传输和光检测。 1.光发射:在这一阶段,光源(如激光器或LED)将电
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[新闻中心]鸿怡电子多功能存储芯片测试座:推动国产芯片替代,提高测试效率、降低测试成本
2024年04月22日 11:55
多功能存储芯片是现代电子产品中不可或缺的重要组成部分。鸿怡电子存储
芯片测试座socket
工程师介绍:它们具有非常独特的封装和测试特点,需经过一系列严格的测试才能确保其稳定性和性能。 一、多功能存储芯片的封装特点 多功能存储芯片的封装是指将芯片固定在包裹材料中,以保护芯片免受环境因素的影响。鸿怡电子存储
芯片测试座socket
工程师介绍:不同类型的存储芯片封装方式各异,常见的封装形式包括裸片、QFN、BGA、EMMC、TSOP48等。 裸片封装是将芯片直接粘贴在PCB上,常用于
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[新闻中心]稀疏算力AI芯片:鸿怡电子
芯片测试座socket
助力高性能、高效率引领人工智能
2024年04月17日 11:43
随着人工智能技术的快速发展,越来越多的企业和个人开始关注AI芯片的研发与应用。根据鸿怡电子AI
芯片测试座socket
工程师介绍:在AI芯片领域中,稀疏算力技术正逐渐崭露头角,成为了一种备受瞩目的新兴技术。 稀疏算力AI芯片的出现,为人工智能的发展带来了新的突破。相比传统的密集算力芯片,稀疏算力芯片通过优化算法和硬件结构,实现了精简和高效的运算。这种芯片设计使得在保持计算精确性的同时,能够大幅度降低功耗和资源占用。稀疏算力芯片的最大特点就是能够利用数据的稀疏性进行有效计算,从
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[新闻中心]什么是气体传感器芯片?工程师教您如何利用
芯片测试座socket
进行常规测试!
2023年07月31日 11:53
气体传感器芯片是一种用于检测和测量环境中气体成分的硅片或集成电路。它可以通过感知环境中的气体分子,将其转化为可测量的电信号,并将结果输出到显示器、控制器或其他设备上。这种芯片可以广泛应用于工业控制、环境监测、室内空气质量检测等领域。 气体传感器芯片的核心组成包括传感器元件、信号处理电路和输出接口。传感器元件通常采用特殊的材料,如金属氧化物半导体或纳米材料。当气体分子与传感器表面接触时,它们会产生化学反应或电学变化,从而导致电阻、电容或电压等参数的变化。信号处理电路负责对
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[新闻中心]多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket
2023年07月25日 16:30
多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket 衰减器(Attenuator)在电子通信和射频系统中扮演着重要角色,用于调节信号强度。本文将根据近期鸿怡电子接到的衰减器
芯片测试座socket
案例进行详细介绍衰减器的芯片类型、特性和封装,以及测试衰减器好坏的方法,同时也探讨如何选择与需求匹配的测试座。 I. 衰减器的芯片类型 衰减器的芯片类型取决于应用需求。常见的芯片类型包括: 1. 表面贴装封装(SMT):其中包括无引线平面封装(QFN)和小尺寸
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[新闻中心]各类半导体传感器
芯片测试座socket
案例分享
2023年07月20日 11:13
一、品名:SOP32陀螺仪传感器芯片测试座 封装尺寸:SOP封装,32pin,1.27mm间距,本体尺寸:8.5*18.65mm,厚度4.6mm 测试支持:频率50Mhz,电流200mA,旋转200/s,支持单个芯片转台测试; 产品特色:按照芯片实际功能需求设计,允许高速旋转,应对高离心力的测试,测试座锁合力紧,接触阻抗低,有利于低耗测试; 产品用途:陀螺仪 gyro,加速度计等位移传感器 陀螺仪芯片测试座 模块测试座 二、品名:LCC22惯性传感模块测试
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[新闻中心]鸿怡电子带您了解如何利用
芯片测试座socket
做芯片环境适应性测试?
2023年07月17日 16:27
半导体芯片测试:如何利用
芯片测试座socket
做芯片环境适应性测试? 芯片环境适应性测试是在芯片研发过程中至关重要的一项测试工作。它的目的是验证芯片在不同的环境条件下的稳定性和适应性,以确保芯片在实际应用场景中的可靠性和性能。 首先,鸿怡电子
芯片测试座socket
工程师带您了解一下芯片环境适应性测试的背景和意义。随着科技的不断进步,芯片被广泛应用于各个领域,例如电子产品、通信设备、汽车电子、医疗设备等。这些不同领域的应用场景往往具有复杂多变的环境条件,包括温度、湿度和
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[新闻中心]鸿怡电子带您了解芯片功能性测试:如何通过
芯片测试座socket
做芯片功能性测试?
2023年07月10日 15:33
什么是芯片功能性测试?如何搭配芯片功能性测试座进行测试? 根据鸿怡电子功能性测试座工程师介绍:芯片功能性测试:通过加载适当的测试程序,对芯片进行功能性测试,以验证其各项功能是否正常运作。 芯片在现代电子领域中具有非常重要的地位,因为它们是在电子设备中扮演着至关重要的角色,令其他设备得以运转。芯片实现了计算机内部的功能,而它们的正常运作对整个设备的稳定性和性能产生重要影响。为确保芯片的信赖性,必须对其进行功能性测试,并监测其运作过程。 芯片功能性测试通过加载适当的测试程
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[新闻中心]QFP/PFP/OTQ封装芯片定义,QFP/PFP/OTQ
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2023年06月12日 17:10
一、QFP/ PFP/OTQ封装类型 QFP/PFP封装的芯片引脚之间距离很小,管脚很细,一般大规模或超大型集成电路都采用这种封装形式。用这种形式封装的芯片必须采用SMD(表面安装设备技术)将芯片与主板焊接起来。采用SMD安装的芯片不必在主板上打孔,一般在主板表面上有设计好的相应管脚的焊点。将芯片各脚对准相应的焊点,即可实现与主板的焊接。 QFP/PFP/OTQ封装具有以下特点: u适用于SMD表面安装技术在PCB电路板上安装布线。 u成本低廉,适用于中低功耗,适
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[新闻中心]BGA封装芯片?BGA芯片测试?BGA
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2023年06月05日 18:19
BGA封装芯片?BGA芯片测试?BGA
芯片测试座socket
? 本文将从以下三个方面为大家讲解关于BGA芯片的相关知识: 一、什么是BGA封装芯片? 二、怎么做BGA芯片测试? 三、如何选择BGA
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(测试座、老化座、烧录座)、BGA芯片测试治具、BGA芯片测试架? 一、BGA封装芯片: 随着集成电路技术的发展,对集成电路的封装要求更加严格。这是因为封装技术关系到产品的功能性,当IC的频率超过100MHZ时,传统封装方式可能会产生所谓的CrossTalk
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[新闻中心]鸿怡电子带您了解BGA封装芯片知识以及BGA
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2023年05月31日 17:29
一、BGA(Ball Grid Array Package),是采用将圆型或者柱状焊点隐藏在封装体下面一种封装形式,90年代后随着集成技术的进步,BGA技术迅速得到发展,现在高密度、高性能、高频率的IC芯片都已经采用这类型的封装技术。 BGA芯片注意问题 1、BGA芯片的扇出过孔是朝外对称结构,BGA上下左右分成四个独立的区域,过孔扇出的格局呈现四个独立的扇形区域,从中间进行分割分别往四边。这样扇出的好处,可以扇出的好处是可以预留十字通道,方便进行内层和GND的通道平面分割和
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[新闻中心]鸿怡电子带您了解半导体芯片封装测试设备--
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2023年05月29日 16:55
半导体设备是芯片制造的基础,全球主要生产厂商集中在欧美、日本、韩国以及中国台湾等地,国外比较知名的企业如美国应用材料(AMAT)、荷兰阿斯麦(ASML)、东京电子等凭借资金、技术优势逐渐垄断了全球半导体设备市场,我国在高端半导体制造设备领域与国外还有很大差距。不过在半导体
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领域,我国已弯道超车,实现全面自主超越化! 芯片制造流程包括:硅片制造、晶圆制造、封装测试三个环节,整个制造流程中晶圆代工厂设备占比最高约为80%、检测设备占8%、封装设备约占7%
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[新闻中心]半导体芯片如何做芯片出厂测试?如何选择芯片测试socket?
2023年05月16日 16:29
芯片测试的目的是快速了解它的本质. 当芯片被晶圆厂制作出来后, 就会进入Wafer Test的阶段. 这个阶段的测试可能在晶圆厂内进行, 也可能送往附近的测试厂商代理执行. 生产工程师会使用自动测试仪器(ATE)运行芯片设计方给出的程序, 简单的把芯片分成好的/坏的这两部分, 坏的会直接被舍弃, 如果这个阶段坏片过多, 基本会认为是晶圆厂自身的良品率低下. 如果良品率低到某一个数值之下, 晶圆厂需要赔钱. 通过了Wafer Test后, 晶圆会被切割. 切割后的芯片按照之
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[新闻中心]鸿怡电子带您详细了解关于半导体芯片可靠性测试与
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2023年05月15日 10:04
一、加速度测试 大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。 但我们不能等到若干年后再研究器件;我们需要增加施加的应力。 施加的应力可增强或加快潜在的故障机理,帮助找出根本原因,并帮助 TI 采取措施防止故障模式。 在半导体器件中,常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。 在大多数情况下,加速测试不改变故障的物理特性,但会转移观察时间。 加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。 高加速测试是基于 JEDEC 资质认证测试的关键部分
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[鸿怡动态]CMOS芯片常见的LGA、PGA、BGA封装芯片鸿怡电子测试座socket!
2022年11月07日 12:04
早在2015年,我国明确将红外探测器列为国产化的重点对象,并出台了一系列相关政策支持。经过多年的发展,我国在探测器领域实现了具有材料的关键技术的自主可控性,MEMS传感器芯片,CMOS读取电路、制冷机、杜瓦封装、整机制备的全产业链生产能力。以及配套的测试相关设备目前已相当成熟,特别是对于目前的CMOS封装相关的如LGA封装芯片测试座、PGA封装芯片测试座、BGA封装
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新兴领域封装:传感器、执行器、微机电系统、纳米机电系统、微光机电系统封装技术;光电封装
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