- [行业资讯]晶振在出厂前为什么要做预老化?2019年01月07日 10:42
- 通常情况下,晶振在使用一段时间后,会发生老化情况,晶振的老化,是指晶体的振动频率随着时间的变化而产生的频率漂移,其频率漂移的速率可用规定时限的最大变化率来表示。 在晶体使用前期,老化主要受元件内部应力释放的影响,频率逐渐升高。而后期受电极膜吸附的影响,频率按对数关系向降低方向变化,随着时间的变化变化量逐渐降低。污染物和残留气体的分子会沉积在晶片上使晶体电极氧化,振荡频率越高,所用晶片越薄,这种影响就越厉害。 那么,导致晶振产生老化的原因有哪些呢? 晶振老化是在生产晶体的时候,
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- [鸿怡动态]老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些?2018年10月18日 18:15
- IC老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些?下面小编为您讲解: 1、过充保护:过充电检测电压、过充电检测延迟时间、过充电解除电压。2、过放保护:过放电检测电压、过放电检测延迟时间、过放电解除电压。3、过流保护:充电过电流保护电流、充电过流检测延迟时间、充电过流解除延迟时间、放电过电流保护电流、放电过流检测延迟时间、放电过流解除延迟时间。4、短路保护:保护条件、外部电路短路、检测延迟时间、保护解除延迟时间。 5、温度保护:温度保护条件。5、温度保护:保护解除条件。6、内阻
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC老化测试座的特点?2018年09月19日 18:00
- 鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket,可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。
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- [行业资讯]IC老化测试座的清理和保养2018年08月16日 17:28
- IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢,从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢?
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- [行业资讯]阐述芯片老化测试座在半导体市场的运用2018年03月27日 17:19
- 老化测试座广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。
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- [常见问题]老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些?2016年07月19日 11:45
- 老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些?下面小编为您讲解: 1、过充保护:过充电检测电压、过充电检测延迟时间、过充电解除电压。 2、过放保护:过放电检测电压、过放电检测延迟时间、过放电解除电压。 3、过流保护:充电过电流保护电流、充电过流检测延迟时间、充电过流解除延迟时间、放电过电流保护电流、放电过流检测延迟时间、放电过流 解除延迟时间。 4、短路保护:保护条件、外部电路短路、检测延迟时间、保护解除延迟时间。 5、温度保护:温度保护条件。 5、温度保护:保护解除条件。
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