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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: Micro-USB 5PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接...
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: 老化测试座1206/1210贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具插座

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃——+150℃
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: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探...
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: 大电流弹片微针模组

测试座 – 微针模组
封装类型ZIF, BTB 连接器 (公母座), BTB Connector, PCB
引脚数2~100
间距0.175mm ~ 0.4mm
导电体Other
用于小间距的FPC/连接器，照相机模组...
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: 0402贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具镀金插座

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: 0603贴片电容翻盖式老化座多工位高低温老化测试座镀金插座

测试座型号：0603贴片电容测试座
适配电容尺寸：1.6mm*0.8mm
封装型号：0603
高低温范围：-55℃——+150℃
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: 定制BGA256-0.8芯片老化座测试座

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: 大量代理韩国探针-Snake探针

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: BGA152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA15...
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: EMCP254合金探针测试座 & HS400 EMCP读卡器

封装类型：BGA
引脚数2~254
间距0.5
导电体Pogo pin
支持eMCP254版本；USB3.0，支持热插拔；eMMC, eMCP和UFS数据的快速读写，擦除
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: eMMC153 UFS测试座读卡器 HS400主控

封装类型：BGA
引脚数2~254
间距0.5
导电体Pogo pin
支持eMMC 5.0及以上；支持UFS 2.1版本；USB3.0，支持热插拔；eMMC, eMCP和UFS数据的快速读写，擦除
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: 测试探针HMILU-PH-5J

产品名称：HMILU-PH-5J
所属分类：PH系列探针
产品简介：PH系列探针、PH-5J、直上圆头探针、一体针、弹簧针、测试针、顶针
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: 开关探针HMILU-KG-250G

产品名称：HMILU-KG-250G
所属分类：开关针
产品优势：产品定位精度高、产品过载稳定、产品测试误判率低
产品介绍：本产品一般用有定向作用的结束测试更多 +

: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试探针P50-A
产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试探针P50-F
产品名称：HMILU-P50-F、HMILU-PA50-F
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、...
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: HMILU测试探针P50-H

产品名称：HMILU-P50-H、HMILU-PA50-H
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、...
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: HMILU夹片探针3.0

产品名称：HMILU3.0夹片针
所属分类：夹片针
适用人群：主用到变压器电感接插件做测试用的
产品介绍：夹片针的寿命是10万次，料采用的是铍铜，胶温度可达200度
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: HY026-JJ-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JJ-5.7L双头探针
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试...
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: HY026-JU-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误...
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