全站搜索 - 测试 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：测试

: BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板...
更多 +

: LGA24测试座测试治具惯性模块测试座运动传感器测试座

根据用户要求定做各种阵列的socket；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
交期短...
更多 +

: 邮票孔模块测试治具模块测试架定制测试座集成模块测试治具

产品特点及性能参数：
采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保I...
更多 +

: CPU测试治具 BGA1156球测试架 CPU测试架 PBGA测试治具 CPU测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
高精度的定位槽或导向孔，...
更多 +

: TO封装元器件测试座 TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用...
更多 +

: TO封装元器件测试座 TO56老化座耐高温 TO56光电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
更多 +

: TO封装元器件测试座 TO46老化座耐高温 TO46热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
更多 +

: USB Type-C 24PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质工程塑料制成，可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接触电...
更多 +

: IEEE1394 4PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...
更多 +

: Micro-USB 5 PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...
更多 +

: Micro-USB 5PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接...
更多 +

: 老化测试座1206/1210贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具插座

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃——+150℃
更多 +

: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探...
更多 +

: 大电流弹片微针模组

测试座 – 微针模组
封装类型ZIF, BTB 连接器 (公母座), BTB Connector, PCB
引脚数2~100
间距0.175mm ~ 0.4mm
导电体Other
用于小间距的FPC/连接器，照相机模组...
更多 +

: 0402贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具镀金插座

更多 +

: 0603贴片电容翻盖式老化座多工位高低温老化测试座镀金插座

测试座型号：0603贴片电容测试座
适配电容尺寸：1.6mm*0.8mm
封装型号：0603
高低温范围：-55℃——+150℃
更多 +

: 定制BGA256-0.8芯片老化座测试座

更多 +

: 大量代理韩国探针-Snake探针

更多 +

: BGA152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA15...
更多 +

: EMCP254合金探针测试座 & HS400 EMCP读卡器

封装类型：BGA
引脚数2~254
间距0.5
导电体Pogo pin
支持eMCP254版本；USB3.0，支持热插拔；eMMC, eMCP和UFS数据的快速读写，擦除
更多 +

首页上一页 <... 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



