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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 805型金手指100P插座PCB插槽总线槽100芯3.175间距野口插座焊板式

型号: IDC 100PIN 3.175
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 44PIN3.175间距，56PIN3.175间距，72PIN2.54间距，100PIN2.54间距，100PIN3.175间距
电路板类型: 1.6mm
适用场景: PCB总线转...
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: GDDR5探针测试座 BGA178测试架夹具工装 2.8GHz高频测试

①适用于常规的BGA178-0.8封装的GDDR5颗粒芯片；
②双头高频测试探针，可过2.8GHz高频型号；
③带PCB转接板，采购回去在PCB板子上面植球即可像SMT贴片一样把测...
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: BGA153测试治具EMMC测试架BGA153测试座老化座手机字库测试架BGA顶窗下压测试座

类型：合金顶窗按压式
封装：BGA153
IC尺寸：11.5*13mm
间距：0.5mm
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: 嵌入式芯片测试夹具BGA484测试治具BGA484-0.8测试座BGA484测试架

型号: BGA484-0.8-18*18
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试，烧录，编程，老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 18x18x1mm
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: IC检测治具pogo PIN测试座集成模块测试架模块烧录夹具测试座

品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试，烧录，老化
封装方式: 邮票孔
引脚间距: 1.27mm
总尺寸 (含引脚): 25x20x1mm
主体尺...
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: 定制烧录测试座 QFN28测试夹具 QFN28老化测试座 QFN28烧录座0.4

型号: QFN28-0.4
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 烧录，编程，老化，测试
封装方式: QFN
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚)...
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: SDM表面贴装器件测试治具 SMD-4PIN测试座

封装：SMD封装-4PIN
结构：翻盖式
来图定制
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: LFBGA144测试夹具LFBGA-144测试治具BGA144测试座LFBGA-144测试座

型号: BGA144-0.8-10*10
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试，烧录，老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚...
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: GDDR测试治具

GDDR测试治具可适用于GDDR显存颗粒的测试，筛选
最高可支持10GHz或更高频率的GDDR颗粒
优良的冷却系统，使得使得测试稳定性...
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: WiFi模块测试座WiFi模块按压烧录座下压顶窗烧录座

封装方式：集成模块
间距：1.27
尺寸：14*23
厚度：2.6
频率：2480MHZ
电流：1A以内
温度：-30℃-105℃
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: BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板...
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: LGA24测试座测试治具惯性模块测试座运动传感器测试座

根据用户要求定做各种阵列的socket；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
交期短...
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: 邮票孔模块测试治具模块测试架定制测试座集成模块测试治具

产品特点及性能参数：
采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保I...
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: CPU测试治具 BGA1156球测试架 CPU测试架 PBGA测试治具 CPU测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
高精度的定位槽或导向孔，...
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: TO封装元器件测试座 TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用...
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: TO封装元器件测试座 TO56老化座耐高温 TO56光电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
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: TO封装元器件测试座 TO46老化座耐高温 TO46热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
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: USB Type-C 24PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质工程塑料制成，可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接触电...
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: IEEE1394 4PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...
更多 +

: Micro-USB 5 PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...
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