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“鸿”业之愿于精密检测
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QFP44下压弹片芯片老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用
封装
:QFP44引脚间距0.8mm
测试座:QFP4-0.8老化座
特点:底部引出引脚为不规则排列
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QFP100下压弹片IC老化座
产品用途: 编程座、测试座,对QFP100的IC芯片进行烧写、测试 适用
封装
: QFP100引脚间距0.5mm 测 试 座: OTQ-100-0.5-09 特 点: 在两侧分别引出所有IO口,方便用户整理插线
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QFP80下压弹片芯片老化座
产品用途:老化座、测试座,对QFP80的IC芯片进行测试 适用
封装
:TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm 测 试 座: IC234-0804-001 特 点: 适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm的IC
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QFP64翻盖弹片IC老化座
1、 绝缘抗阻: 1000MΩ Min.At DC 500V
2、耐电压: 1 Minute At AC 700V
3、接触抗阻: 30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
...
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QFP48翻盖弹片芯片老化座
性能指标:
1.工作温度:-55℃~ 150℃
2.接触电阻:≤0.05Ω
3.绝缘电阻:500VD.C≥1×109Ω
4.可焊性≥90%mm2
5.机械寿命:≥5000 h
6特殊规格可按用户需要定制
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QFP32翻盖弹片芯片老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
适用
封装
:QFP32、PQFP32、TQFP32,引脚间距0.8mm
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eMMC153/169 eMCP162/186 eMCP221 转USB接口 测试座 三合一套装
产品用途:编程座、测试座,对eMMC153/169 eMCP221 eMCP162/186 的IC芯片进行测试、读写
测试方法:
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2...
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EMMC153/169翻盖弹片转USB芯片测试座
产品用途:编程座、测试座,对EMMC153/169的IC芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2.把USB线插到电脑上USB接口,打开座...
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SM2256主控 BGA152转dip48一拖二测试座
产品用途:编程座、测试座,对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据
适用
封装
:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0
特点:无需焊接,节约成本
...
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EMMC169/153翻盖探针转SD芯片测试座
eMMC169/153合金探针转SD芯片测试座 1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6...
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[新闻中心]DDR存储芯片的种类、
封装
测试与鸿怡芯片老化座、测试夹具治具应用
2025年07月30日 10:58
一、国产DDR系列存储芯片的种类与技术演进 国产DDR存储芯片以长鑫存储(CXMT)为代表,已实现从DDR4到DDR5的全系列覆盖。DDR4采用19nm工艺,单颗芯片容量达16Gb,支持1.2V电压,最高速率3200MT/s,主要应用于消费级PC和数据中心。 2025年,长鑫存储的DDR5良率已突破80%,采用17nm工艺,支持400MHz基频和PAM4调制,单颗芯片容量提升至16Gb,速率达6400MT/s,电压降至1.1V,同时引入双32位独立子通道设计,带宽
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[新闻中心]鸿怡HMILU:什么是芯片测试座?芯片老化座?芯片烧录座?
2025年06月25日 10:30
芯片测试座作为半导体测试流程里的关键部分,在连接芯片与测试设备中扮演着桥梁角色,承担着多项关键测试功能,对保障测试的精准性与可靠性意义重大。 物理连接与适配:芯片测试座负责将待测芯片与测试设备进行稳固且精准的对接。不同类型的芯片,如采用 BGA(球栅阵列)、QFN(方形扁平无引脚
封装
)、DFN(双边扁平无引脚
封装
)、QFP(四方扁平
封装
)、SOP(小外形
封装
)、LGA(栅格阵列
封装
)等
封装
形式的芯片,其引脚布局与间距各不相同,这就要求芯片测试座具备高度的适配性,能够精准定
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[新闻中心]鸿怡HMILU:芯片测试座的基本功能:半导体芯片测试的重要基石
2025年06月16日 11:25
芯片测试座,作为半导体测试流程里的关键部分,在连接芯片与测试设备中扮演着桥梁角色,承担着多项关键功能,对保障测试的精准性与可靠性意义重大。 从物理连接层面看,芯片测试座负责将待测芯片与测试设备进行稳固且精准的对接。以常见的集成电路芯片(IC)为例,芯片测试座需要确保芯片上的每一个引脚都能与测试设备的对应通道实现正确且稳定的连接。不同类型的芯片,如采用BGA(球栅阵列)、QFN(方形扁平无引脚
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)、DFN(双边扁平无引脚
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)、QFP(四方扁平
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)、SOP(小外形
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)、L
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[新闻中心]半导体芯片测试解析:CP,FT与ATE的协同创新与鸿怡电子芯片测试座解决方案
2025年05月12日 14:48
半导体芯片测试是确保芯片性能、可靠性和良率的核心环节,其中晶圆测试(CP)、成品测试(FT)和自动化测试设备(ATE)构成了测试流程的三大支柱。随着芯片复杂度提升和先进
封装
技术的发展,测试技术也在不断革新。本文将从测试要求、技术特点、应用场景及关键设备等角度,结合鸿怡电子的芯片测试座、老化座与烧录座解决方案,深入解析半导体测试的全链路创新。 一、CP测试:晶圆级的“第一道关卡” 测试要求与特点 CP测试(Chip Probing)在晶圆切割前进行,目
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[新闻中心]主流传感器芯片的测试:鸿怡电子IC测试座工程师带您了解如何选配传感器芯片测试座
2025年05月06日 11:02
传感器芯片作为智能化时代的“感官神经”,其测试技术正朝着高精度、多模态与全场景覆盖演进。鸿怡电子通过定制化芯片测试座、芯片老化测试座与端到端芯片编程烧录座,为汽车、医疗、工业等领域提供从研发到量产的可靠性保障,助力中国半导体产业迈向高端化与自主可控。 一、主流传感器芯片/模块类型与测试挑战 传感器芯片与模块根据应用场景与
封装
形式呈现多样化特点,其测试需针对不同
封装
与性能需求定制化设计: 1. 核心传感器类型与特点 超声波传感器芯片: 特点:基
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[新闻中心]鸿怡电子芯片测试座工程师带您解析半导体芯片与集成电路IC:
封装
、结构、测试与应用
2025年03月28日 10:38
半导体芯片与集成电路(IC)的
封装
技术是连接芯片与外部系统的关键环节,直接影响器件的性能、可靠性与应用场景。随着5G、AI、物联网等技术的快速发展,
封装
形式从传统插装型向高密度、三维集成方向演进。本文全面梳理市面上主流及前沿
封装
形式,剖析其结构原理、应用场景及测试技术,并结合鸿怡电子测试座的关键技术,探讨国产测试解决方案的创新实践。 一、传统
封装
形式 1. DIP(双列直插
封装
) 结构:两列引脚垂直排列,引脚间距通常为2.54mm,插入PCB通孔焊接。
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基材多为塑料或陶
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[新闻中心]突破微间距:鸿怡电子开尔文弹簧探针结构在WLCSP芯片测试座中的创新应用
2025年03月12日 11:01
随着半导体
封装
技术向高密度、微型化发展,晶圆级芯片
封装
(WLCSP)因其体积小、性能优的特点,成为消费电子、汽车电子等领域的主流选择。然而,WLCSP芯片的触点间距缩至0.35mm甚至更低,对测试座的精度与可靠性提出了更高要求。开尔文弹簧探针结构为核心,结合鸿怡电子等国产芯片测试座厂商的技术,探讨其在WLCSP芯片测试中的关键应用与创新突破。Kelvin 探针头设计应用于标准阵列测试插座或Volta 晶圆级别探针头( Volta WLCSP) ,提供稳健、易于维护、长寿命的测
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[新闻中心]加快国产存储芯片替代:鸿怡HMILU芯片测试座是如何提高EMMC芯片测试良率?
2025年03月05日 11:10
存储芯片测试座是如何提高EMMC
封装
系列芯片测试良率的 EMMC
封装
存储芯片的系列与BGA
封装
特性 存储芯片中主流EMMC
封装
系列 EMMC(Embedded MultiMediaCard)采用BGA(Ball Grid Array)
封装
,通过焊球阵列实现高密度互联,其
封装
规格根据容量与接口需求分为: EMMC152:153球BGA(11.5×13mm),容量16GB-64GB,适用于智能穿戴设备; EMMC153:169球BGA(12×16m
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[新闻中心]IC测试工程师:分解QFN
封装
芯片测试座核心技术-深圳鸿怡电子
2025年02月18日 11:12
QFN
封装
芯片的特点与适用场景 QFN(Quad Flat No-lead)
封装
凭借无引脚设计、底部大面积裸露焊盘,成为高密度小型化电子产品的优选方案。其核心优势包括: 1. 体积轻薄:
封装
高度低至0.8mm,适用于智能穿戴、微型传感器等空间敏感场景; 2. 散热高效:底部金属焊盘直接连接PCB,热阻降低30%-50%,满足5G基站、车载ECU等高功耗需求; 3. 电性能优越:短引脚结构减少寄生电感,适配高频通信芯片及高速数据处理模块。 主要应用于消费电子(如手机射频
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[新闻中心]国产功率器件IGBT模块
封装
与测试,鸿怡电子IGBT测试座socket-关键测试连接器
2025年02月11日 09:45
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)因为其在功率控制和变频应用中的卓越表现,逐渐成为了重要的功率器件。尤其在国产化进程加速的背景下,国产IGBT模块凭借其独特的性能和应用潜力受到了广泛关注。这篇文章将深入探讨国产IGBT模块的特点与应用领域,同时详解其
封装
与测试,特别是对CP测试(分选测试)和FT测试(功能测试)的特点与区别进行比较,并分析测试座在IGBT模块测试中的关键作用。 一、国产IGBT模块的特点 1. 优异的电性能 国产IGBT模块近年来在电性能上取得了显著的进步。其
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