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/10通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候,经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass,整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass,测试项整体跑就fail。有的是手测pass,量产一跑就fail。这种不稳定的问题,往往是最令人头疼的,但其实只要仔细分析,最终还是能够找到解决方案的。
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/10使用我公司生产设计开模的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本,经过不断的开发试验,我司已将治具制作标准化,提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的, 我司探针均采用国外进口品牌,测试更稳定可靠,并且测试寿命也更长。?
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/09鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作,在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良,已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求,测试座可过高达25G的频率,测试性能稳定可靠。已经成为射频IC厂家的最佳合作伙伴!
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/09IC测试一般分为物理性外观测试(Visual Inspecting Test),IC 功能测试(Functional Test), 化学腐蚀开盖测试(De-Capsulation), 可焊性测试(Solderbility Test), 直流参数(电性能)测试(Electrical Test), 不损伤内部 连线测试(X-Ray), 放射线物质环保标准测试(Rohs)以及 失效分析(FA)验证测试...
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/09今年鸿怡电子在内容中添加了两个新项目。 第一个是用于BGA152 / 132 BGA63 TF卡/UDP卡的NAND闪存自动测试机台等。 第二个是FPC FFC线测试座和BTB连接器测试座。
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/08我们鸿怡电子是从2001年开始专注IC测试治具的生产加工和定制,现在已经拥有17年的生产经验,20多名设计工程师,5台大型CNC精密加工设备。保证产品质量的同时可以更快速高效的出货!
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/25深圳市鸿怡电子有限公司它是一站式芯片老化测试解决方案制造商。如果您想了解更多关于定制IC测试座/IC测试治具的信息,请联系我们
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/19最终测试:也叫成品测试,是指芯片完成封装后,通过分选机和测试机配合使用,对集成电路进行功能和电参数性能测试,保证出厂的每颗集成电路的功能和性能指标能够达到设计规范要求。
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/12目前,全球市场上有多种类型的IC测试座,如烧录座,编程座,功能性IC测试座,高频IC测试座等,其中,根据客户的测试条件以要求的不同,IC测试座的重要材质也会有所不同。
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/09鸿怡电子现有的BGA测试座除了常见的有现货以外,一些不常用的大多都需要定制。国外的BGA测试座定制时间一般需要4-6周,而我公司只需要一周的时间。性价比相较国外测试座来说更高,更优。