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DFN8(6*8)-1.27翻盖探针芯片测试座
DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座 QFN8-1.27-CPO1PNL烧录座厂家批发
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖探针测试座,DFN8-1.27HMILU自有品牌,大量现货当天发! 【1.27间距/带板】
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QFN44-0.4(6*6)翻盖弹片双层板IC烧录座
QFN44-0.4 双层转板烧录座 0.4mm间距 翻盖测试座 镀金弹片编程座
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片烧录座,QFN44-0.4 HMILU自有品牌,大量现货当天发! 【0.4间距/带板】
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SSOP28(28)-0.65下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配的芯片规格是:SSOP/TSSOP封装、28PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度:4.4mm
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QFN64-0.5翻盖弹片IC测度老化座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN64引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN64-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN40-0.4下压弹片IC测试老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.4mm
测 试 座:QFN40-0.4
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN40-0.5翻盖弹片IC测试老化座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试 适用封装: QFN40引脚间距0.5mm 测 试 座: QFN40-0.5 特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN32翻盖弹片转DIP152芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN32翻盖弹片转152烧录座
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QFN32-0.5翻盖弹片芯片测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN32-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN28翻盖弹片单层板IC测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN28的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN28
引脚间距:0.5mm
测 试 座:QFN28-0.5
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN24下压弹片IC老化测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.4mm
测 试 座:QFN24-0.4
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFP100下压弹片IC烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFP100的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP100引脚间距0.5mm
测 试 座:QFP100-0.5烧录座
特 点:在两侧分别引出所有IO口,方便用户整理插线
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QFP80下压弹片IC测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFP80的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFP80引脚间距0.5mm 测 试 座:QFP80-0.5烧录座 特 点:底部引出引脚为不规则排列
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QFP100下压弹片IC老化座
产品用途: 编程座、测试座,对QFP100的IC芯片进行烧写、测试 适用封装: QFP100引脚间距0.5mm 测 试 座: OTQ-100-0.5-09 特 点: 在两侧分别引出所有IO口,方便用户整理插线
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QFP64翻盖弹片IC老化座
1、 绝缘抗阻: 1000MΩ Min.At DC 500V
2、耐电压: 1 Minute At AC 700V
3、接触抗阻: 30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
...
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QFP48翻盖弹片芯片老化座
性能指标:
1.工作温度:-55℃~ 150℃
2.接触电阻:≤0.05Ω
3.绝缘电阻:500VD.C≥1×109Ω
4.可焊性≥90%mm2
5.机械寿命:≥5000 h
6特殊规格可按用户需要定制
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