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QFN28翻盖弹片单层板IC测试座详细信息/Detailed Information

QFN28翻盖弹片单层板IC测试座

产品用途:编程座、测试座,对QFN28的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN28
引脚间距:0.5mm
测 试 座:QFN28-0.5
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
订购热线:13631538587
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产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN28的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN28

引脚间距0.5mm

测试座:QFN28-0.5

特点:采用U型顶针,接触更稳定

烧录座连线图(顶视):


QFN28烧录座连线图1

采购:QFN28翻盖弹片单层板IC测试座

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