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» 搜索:器件测试座
SOT89-3L-1.5mm合金翻盖探针
器件测试座
SOT89系列-3L器件测试夹具规格参数:
生产厂家品牌:鸿怡电子—HMILU
器件封装形式:SOT89
器件引脚:3pin
器件引脚间距:1.5mm
期间含引脚尺寸:4*4.5mm
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TOLL9PIN-1.2mm-9.9×11.68mm合金旋钮翻盖分立
器件测试座
TOLL9pin分立
器件测试座
规格参数信息:
生产品牌:HMILU
封装类型:TOLL
器件引脚:9pin
引脚间距:1.2mm
适配分立器件尺寸:9.9*11.68mm
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8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座
8+8pin光感探测
器件测试座
规格参数:
生产厂家:HMILU
器件引脚:8+8pin(正面8pin+背面8pin)
器件引脚间距:0.35mm
器件尺寸:2*2mm
器件厚度:1.0mm
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感光器件4pin-1.1mm-3×0.9mm合金翻盖测试座
4pin感光
器件测试座
规格参数信息:
品牌:HMILU
器件引脚:4pin
器件引脚间距:1.1mm
器件尺寸:3*0.9mm
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TO252-3PIN-2.286mm-6.8x7.1mm合金翻盖测试座
TO252-3L功率
器件测试座
规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TO252
器件引脚:3pin
引脚间距:2.286mm
适配尺寸:6.8*7.1mm
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TOLL9pin-1.2mm-9.9X11.68mm合金旋钮翻盖测试座
TOLL9pin功率
器件测试座
规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TOLL
器件引脚:9pin
引脚间距:1.2mm
适配器件尺寸:9.9mm
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光耦芯片14pin-1.27mm-22x2mm合金旋钮翻盖测试座
光耦14pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片引脚:14pin
引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:22*27mm
芯片厚度:5mm
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探测器件82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖测试座
探测器件82pin测试座规格参数:
品牌:HMILU
探测器件pin脚:82pin
探测器件引脚间距:1.0mm
探测器件尺寸:45*48mm
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定制12pin-2.54mm-19.5x16.5合金翻盖直插式元器件可靠性测试座
元器件可靠性直插式测试座规格参数:
品牌:HMILU
元器件引脚:12pin
元器件引脚间距:2.54mm
适配元器件尺寸:19.5*16.5mm
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定制CLCC84pin-0.8mm-22X22mm合金翻盖测试座
CLCC84pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:CLCC
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:22*22mm
芯片厚度:4.25mm
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新款TO247-4pin老炼座-TO老化座
TO247器件老化测试座规格参数:
器件封装类型:TO247
引脚:4pin
引脚间距:5.44mm
测试座类型:下压式
适用场景:老化/测试/烧录
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定制TO252-5pin合金翻盖老化座
TO252-5pin老化测试座规格参数:
封装类型:TO252
引脚:5pin
引脚间距:1.14mm
本体尺寸:6.4mm
含引脚尺寸:10.6mm
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PDFN/TOLL/TO等封装的大电流大功率半导体器件MOS场效应管老化测试座测试夹具工装老化插座socket
老化座特点: ①该老化座采用PEI耐高温塑胶材料注塑成型,适用于长时间高温高湿(85%HR,175℃)环境下老化(htol/hast)且交期短; ②采用按压式结构,适用于自动化设备大批量放取MOS场效应管器件,大大提高测试效...
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TO封装元
器件测试座
TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座
产品名称:TO 系列老化座
型号:TO46-5-2.54
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实验温度<135℃,可连续使用...
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TO封装元
器件测试座
TO56老化座耐高温 TO56光电堆传感器老化座
产品名称:TO 系列老化座
型号:TO56-5-2.2
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实验温度<135℃,可连续使用大...
更多 +
TO封装元
器件测试座
TO46老化座耐高温 TO46热电堆传感器老化座
产品名称:TO 系列老化座
型号:TO46-4-2.0
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实验温度<135℃,可连续使用大...
更多 +
[新闻中心]光感探测器件:其原理、特点、适用场景解析,及鸿怡电子
器件测试座
的选配
2024年02月28日 11:38
光感探测器件是一种能够感知光线并将其转化为电信号的重要技术装备,根据鸿怡电子光感探测
器件测试座
工程师介绍:光感探测器件扮演着至关重要的角色,被广泛应用于光通信、光电传感、太阳能电池等诸多领域。通过不断的研究和创新,光感探测器件在提高灵敏度、降低成本、扩大应用范围等方面取得了突破性进展。 光感探测器件的原理是利用光的作用,将光信号转换成电信号。通过材料的特性和结构设计,光感探测器件可以在不同波长范围内实现高效的光电转换,将光能转化为电能。目前,常见的光感探测器件包括光电二极
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新闻
[新闻中心]鸿怡电子-电子器件之功率二极管的封装测试以及对应的测试座特点分析详解
2024年01月25日 14:40
SMA/SMB/SMC二极管封装测试座 SMA/SMB/SMC type diode lC test socketSMA/SMB/SMC二极管测试座是一种用于测试和连接SMA、SMB或SMC封装的二极管的插座。 鸿怡电子功率二极管测试座工程师介绍:这些IC测试座通常用于电子测试和制造过程中,以便方便地插入和拔出二极管,并确保良好的接触。它们允许在测试期间对二极管进行测量和分析,以确保其性能符合要求。这些测试座通常具有与相应二极管封装兼容的插针和插孔,以实现可靠的连接。 电子
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[新闻中心]半导体功率器件:鸿怡电子IC测试解决方案,IC测试座的特点与选配
2023年11月20日 14:57
什么是功率器件?功率器件的封形式及特点详解 功率器件在各行各业中发挥着至关重要的作用。根据半导体功率
器件测试座
socket工程师介绍:功率器件用于控制和调节电流、电压以及功率的传递,广泛应用于各种电子设备中。功率器件的性能直接影响着设备的稳定性和效率。 1、简单来说,功率器件是指能够处理和传递高功率电量的电子元件。它们通常用于电源、变换器、逆变器以及各种高功率电子设备中。功率器件的主要功能是将正交电路中传递的电量进行控制和调节,从而实现对电流、电压和功率的稳定控制。 2、常
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车规芯片老化测试座
[新闻中心]什么是半导体功率器件、继电器、光器件、同轴器件?采用TO封装的特点以及TO系列老化测试座的选择!
2023年08月21日 17:31
同轴器件、半导体功率器件、继电器和光器件是现代电子领域中常见的一些器件类型。根据鸿怡电子负责半导体相关器件老化测试座的工程师介绍:它们在电路设计和电子设备中起着重要的作用。在本文中,我们将对这四种器件进行详细的介绍和解释。 首先我们需要先了解一下半导体功率器件、继电器和光器件、同轴器件是什么? 1、半导体功率器件是一种能够在电路中控制和传输功率的器件。它主要由半导体材料制成,具有高效率和高耐压特性。半导体功率器件包括晶体管、场效应管和双极型晶体管等。它们被广泛应用于
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