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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: HMILU-3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座

3225-8pin晶振老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
晶振型号：3225
引脚：8pin
引脚间距：0.825mm
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: HMILU定制晶振2016-4L塑胶翻盖测试座

晶振2016-4L测试socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
封装类型：晶振2016
引脚：4pin
晶振尺寸：2.0*1.6mm
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: 5032-10pin塑胶翻盖晶振测试座socket

5032-10pin晶振测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
晶振型号：5032
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
适配尺寸：5.0*3.2mm
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: QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座

QFN32pin晶振测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：QFN
引脚：32pin
引脚间距：0.5mm
适配尺寸：5*5mm
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: 晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻盖测试座

3225晶振4pin一拖十六工位测试座规格参数：
品牌：HMILU
引脚：4pin
引脚间距：2.24mm
适配尺寸：3.2*2.5mm
一拖十六工位（开天窗）
天窗尺寸：1.5*1.5mm
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: DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm
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: 定制WLCSP36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

WLCSP36pin晶振测试座规格参数：
晶振封装形式：WLCSP
晶振引脚：36pin
晶振引脚间距：0.4mm
适配晶振尺寸：2.487*2.541mm
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: 定制7050-6pin-2.54mm塑胶翻盖晶振测试座

7050晶振测试座规格参数：
晶振引脚：6pin
晶振引脚间距：2.54mm
适配晶振尺寸：7*5mm
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: 定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下压合金顶窗式测试座

3215-8pin晶振测试座规格参数：
晶振型号：3215
引脚：8pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：3.2*1.5mm
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: 定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座

5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
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: 7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

7050-4晶振老化座特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：PEI；
③接触方式及材质：单头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：PEI；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：...
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: 新开模晶振3225探针测试座贴片晶振老化座3225晶振老化座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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: 5032-4pin晶振探针老化座 5.0×3.2mm crystal oscillator测试座

工厂直销，接受批发、零售
贴片晶振5032 5.0*3.2mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
量大从优，欢迎咨询
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: SMT贴片晶振7050-4pin翻盖探针测试座

规格尺寸
一、型号: 7050(7.0*5.0)-4PIN
二、脚位:4pin
三、芯片尺寸:7.0*5.0mm
贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
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: 7050-4PIN单面弹晶振老化座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C
探针接触细节
产...
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: 贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座

产品数据: 1、材料：PEI 2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3GHZ 4、结构：Open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°C～175°C 探针接触细节产品特点： 1、采用开模Socket+探针...
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: 晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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[新闻中心]晶振测试解决方案：鸿怡电子超低相位噪声晶振测试与晶振测试座案例解析2024年12月12日 14:47: 在对相位噪声要求极高的应用领域，高精度晶振更是不可或缺。本篇文章我们将深度解析超低相位噪声晶振的工作原理与应用，着重探讨其在Hi-Fi音频系统中的作用，详细介绍封装形式及测试要求。超低相位噪声晶振的定义与核心工作原理晶振，即晶体振荡器，是一种能提供高精度频率输出的装置，其工作原理基于石英晶体的压电效应。超低相位噪声晶振则是在这一基础上发展而来的，其特点是能提供极低的相位噪声输出，尤其是在近端频率，如10Hz时，达到了 -100dBc的水平。这种超低相位噪声的性能是如何; 阅读（13）标签：产品|定制测试座|定制测试治具|新闻|定制IC测试架|晶振测试座|晶振老化座

[新闻中心]鸿怡电子工程师：探讨芯片设计中的多项测试流程：及其芯片测试座的重要性2024年09月20日 15:10: 芯片在我们生活中的应用也越来越广泛。从手机、电脑到家电和汽车，每一个设备中都有芯片的存在。而芯片的可靠性和性能则直接影响着这些设备的使用效果。为了确保芯片在实际应用中的表现，芯片需要进行各种测试过程，这些测试的准确性和效率很大程度上取决于测试座。一、芯片可靠性测试芯片可靠性测试主要是为了评估芯片在各种工作环境下的长期稳定性和故障率。这项测试会在实验室环境中模拟各种极端条件，例如高温、低温、高湿等，然后观察芯片的表现。针对这些条件，芯片测试座需要具备如下特点： 1. 耐高; 阅读（26）标签：产品|定制测试治具|定制测试座|定制IC测试架|BGA测试座|QFN烧录座|QFP封装测试座|晶振老化座|新闻|SOP老化座

[新闻中心]鸿怡电子工程师带您了解3225、5032、7050有源晶振温度循环测试解决方案2024年07月29日 14:56: 有源晶振作为现代电子设备中的关键组成部分，在性能和稳定性方面起着至关重要的作用。标准规格的有源晶振包括3225、5032、7050等型号，根据相关有源晶振测试座socket工程师介绍：这些型号的晶振被广泛应用于各类电子设备中。然而，在不同的工作环境下，其性能表现是一个亟待检验和确保的问题，其中尤以温度循环测试最为关键。一、有源晶振的基本概念有源晶振是指具有内置振荡电路，能够直接输出稳定频率信号的晶振，与无源晶振相比，其频率稳定性和精度更高。有源晶振通常分为常规晶振和温补; 阅读（12）标签：产品|新闻|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架|晶振老化座|晶振测试座

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