QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座

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QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座

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QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座

QFN88pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-88-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:88pin
D、芯片尺寸:12*12mm
E、对应国外型号790-62088-101T

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN88的IC芯片进行老化、测试

可用于作HOTL\HAST老化试验

B、适用封装:QFN88引脚间距0.5mm

C、测试座:QFN88-0.5

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

QFN老化座

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QFN芯片老化测试座

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