鸿怡电子生产定制的QFN80pin-0.35mm-8×8mm合金翻盖探针测试座socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN80pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
QFN80pin芯片测试座产品简介:
芯片测试电流:800mA
芯片测试频率:3Ghz
芯片测试温度:-45°~+135°
芯片测试夹具结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金