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DDR4×16内存条高速弹片针测试夹具治具96ball

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DDR4×16内存条高速弹片针测试夹具治具96ball

产品简介：采用高速弹片针接触连接方式，改善导电胶不耐脏寿命短的致命缺点问题。
测试频率：20GHZ
外壳材质：AL6061
使用温度：-55℃~155℃
机械寿命：5W+
特点：每个工位的弹片和胶芯相互独立、更换简单快捷；限位尺寸可更换；

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产品详情

DDR4×16内存条高速弹片针测试夹具治具96ball

产品简介：采用高速弹片针接触连接方式，改善导电胶不耐脏寿命短的致命缺点问题。
测试频率：20GHZ
外壳材质：AL6061
使用温度：-55℃~155℃
机械寿命：5W+
特点：每个工位的弹片和胶芯相互独立、更换简单快捷；限位尺寸可更换；

双面弹测试夹具与PCR测试夹具对比

DDR内存条测试夹具

DDR（4×16）96球内存条测试夹具

DDR测试治具 LPDDR测试治具 bga200测试座 GDDR5测试座

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引脚中心间距:2.0mm
适配尺寸:8*8*0.85mm
接触介质:探针
测试座结构:下压式
测试座材料:合金+PEEK

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