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应用于SIM卡密钥芯片的老化测试解决方案

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浏览:- 发布日期:2019-07-04 17:20:57【

随着市面上电子产品的更新换代,小型封装的芯片越来越受欢迎。其中,尤数QFN系列的封装最为广泛。电源管理芯片同,SIM卡密钥芯片、MEMS传感器等等产品都可见到它的身影。时,对于小型封装芯片的老化、以及性能测试,也是芯片设计公司以及封测厂的重中之重。

针对QFN8系列芯片的老化,测试,鸿怡电子研发设计出一系列完整的解决方案,老板板加上测试socket的方式。很好的帮客户解决以上问题。

SIM卡密钥芯片老化测试

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