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QFN48-0.35老化座_0.35间距烧录座_5×5_IC测试座_镀金座

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浏览：- 发布日期：2021-09-09 15:05:37【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN48-0.35老化座_0.35间距烧录座_5×5_IC测试座_镀金座，同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN48-0.35烧录测试座

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:QFN48引脚间距0.35mm

C、测试座:QFN48-0.35

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

QFN48老化烧录测试座
规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.35

B、引脚间距(mm):0.35

C、脚位:48

D、芯片尺寸:5*5mm