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你一定要看的NI射频芯片测试方案

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浏览:- 发布日期:2020-03-27 16:47:13【

对于很多射频无源器件来说,插入损耗是其中一个关键的测试项目。在一个系统之中,由于某个器件的插入而发生的功率的损耗便是插入损耗,通常插入损耗由dB来表示。

一般来说,对于射频器件来说,如果在器件插入之前传输给负载的功率是 ,插入之后负载接收到的功率是,则以dB为单位的插入损耗由下式给出公式:

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作为射频开关的关键指标之一,每个开关都会存在一些寄生电容、寄生电感、寄生电阻等。在开关做信号路由的时候,这些寄生元件会直接将信号进行衰减和降低。而这些寄生元件随着输入信号频率的变化引起功率损耗,因此对于射频开关来说在不同频率下进行插入损耗测试是必要的一步。

对于射频开关进行插入损耗测试的时候,可以定制相应的射频芯片测试座配合NI VST矢量信号收发仪进行测试。

2、隔离度Isolation

隔离度是指的在待测端口检测到无用信号的衰减度。一个高隔离度的开关能够大幅度减少其他通道对其的影响,这样保证了信号的完整性。


3、驻波比VSWR

VSWR是反射波到入射波的比值,在射频开关芯片一些实验室验证测试中会进行这个项目的测试。在高频情况下,对于一个理想系统,传输能量为100%;当信号在不同的介质(如一些阻抗不匹配的元件)上传输时,如果能量未被全部吸收,反射就会发生。

 

在射频开关芯片中,这种不匹配可能是由于连接器上的阻抗不匹配等。VSWR是反射波功率的一种测量方法,它也可以用来测量传输线上的功率损耗。反射波与输入信号叠加形成驻波,反射引起相消干扰,沿着传输线在不同时间、距离产生电压波峰、波谷,因此VSWR被定义为最高电压与最低电压之比。

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其中是输入端口的反射系数,即S11参数,可使用VNA或者前文提到的STS端口模块直接快速测量。

 

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