历经8个月的等待,深圳鸿怡电子有限公司于2018年7月31日从美国专利商标局获得“ANDK”品牌。商标注册号:5530096.ANDK品牌IC测试座属于Int.CI:9。
我们的所有IC测试座(包括BGA测试座,QFN测试座,DDR测试座,FPC连接器针模测试座,QFP烧录座,SOP / SOIC老化/烧录座,晶体振荡器测试座,TSOP老化座,SSD测试解决方案等)在美国合法销售,我们的IC测试座及其品牌受美国法律保护。
与此同时,我们还开通了我们IC测试座的海外销售业务,在Amazon上更新了我们的“ANDK”品牌,Amazon是美国最大的在线电子商务公司,我们的IC测试座将在那里进行传统销售。
我们的亚马逊美国站将在那里销售传统的IC测试插座。
如果您还需要定制IC测试座,请随时联系我们的销售人员!
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