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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制LGA6-0.6PEI塑胶老化座测试座烧录座socket夹具治具

产品简介：适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点：
①我司独有设计生产的老化探针，成本低，老化电气性能温度，寿命高；
②采用CNC加工方式，提供芯片的规格图纸即可设计；
③...
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: IC51-0444-467 测试座适配 Adapter插座转接座 FPT-p0.80-44P

Adapter插座
适配进口座型号：IC51-0444-467（FPT-P0.80-44P）
壳体材质：黑电木
插针材质：镀镍金磷铜
各种老化座Adapter插座定制
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: JFP-16-AA翻盖烧录座CSOP16-1.27烧录夹具读写socket

JFP-16-AA翻盖烧录座烧录夹具socket
材料&特性：
socket本体：PEI
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ500VDC
最大电流：...
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: JFP-16-AA翻盖老化座CSOP16-1.27老化夹具socket

JFP-16-AA翻盖老化座老化夹具socket
材料&特性：
socket本体：PEI
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ500VDC
最大电流：...
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: 定制QFN22-0.5（3x5）合金翻盖探针测试座老化座

1、工作温度：-55℃~125℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni（鍍金3μ",鎳底50~100μ"）；
4、单PIN额定电压&电流：直流12V&1.0A；
5、耐压...
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: 定制CSOP52-0.5陶瓷封装器件测试座老化座夹具治具

定制CSOP52-0.5 6.4x12.2合金翻盖测试座
测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电...
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: 定制BGA291-0.8合金翻盖旋钮探针测试座读写socket夹具治具

BGA291测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多...
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: 定制BGA114-0.5合金翻盖探针测试座socket夹具

BGA144测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多...
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: SSOP10-1.0翻盖光座，不接地，083-0100-100

SSOP10-1.0翻盖光座，不接地，083-0100-100
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: 标准品 JFP-16-A翻盖老化座测试座烧录座老化夹具治具

标准品 JFP-16-A翻盖老化座测试座烧录座老化夹具治具
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: 定制邮票孔模块36+5PIN-2.0（30x35mm）合金翻盖测试座

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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: 定制射频邮票孔模块24PIN合金翻盖探针测试座夹具socket

射频邮票孔模块24PIN合金翻盖探针测试座夹具socket
邮票孔模块，24脚
焊盘间距1.1mm，尺寸12.2*16.0mm，厚度2.4mm
射频信号2G，插损<1dB，回损<-15dB
电流1A以内
温度常温
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: 定制模块PLCC48合金翻盖探针测试座夹具治具socket老化座

PLCC48模块合金翻盖探针测试座
模块尺寸：16.4*16.4mm
pad间距：1.0mm
最大高度：4.0mm
老化温度：-50~155℃，持续的时间1000小时
工作频率：1MHZ
高速信号：单通道速率3Gbps、最高10...
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: 定制16PIN邮票孔模块测试夹具测试座治具socket翻盖探针

邮票孔模块测试座（夹具）特点：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之...
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: 定制LED灯珠模块测试座测试socket夹具治具PCB模块

定制LED灯珠模块测试座测试socket夹具治具PCB模块
正常导通供电测试即可
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化...
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: 定制传感器BGA144-0.8 10x10翻盖合金测试座（需开天窗）

144传感器模块测试座（夹具）特点：
①翻盖顶窗式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式，单价低，交期快。
③采用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数...
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: 定制SOT89-3L-1.5（4.5x2.45）合金翻盖探针老化座测试座夹具

SOT89-3L封装芯片测试座，本体尺寸4.5*2.45mm
电流100mA
功率：0.5w
老化温度：125度@1000H
芯片背面有接地PAD，需要使用用铜块散热
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: 定制BGA169-0.5（7x7）合金翻盖旋钮探针测试座老化座夹具socket

BGA169测试治具测试座老化座夹具socket
1、工作温度：-55℃~155℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni；
4、单PIN额定电压&电流：直流12V&1....
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: QFP64老化座adapter转接器DIP插针LQFP64 adapter

QFP64翻盖弹片老化座Adapter转接器
材质：电木
接触针：镀镍金黄铜
使用温度：-40℃~130℃
支持各种老化座Adapter订做，5个起订
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: 定制EMMC153（44针）11.5x13合金翻盖探针测试座读写夹具

EMMC芯片标准11.5*13封装芯片44针高低温读写测试座
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥...
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