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» 搜索:测试架
定制BGA225pin-0.8pin-12X12mm合金旋钮探针测试座
BGA225pin封装芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:12×12mm
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定制邮票孔模块36+5PIN-2.0(30x35mm)合金翻盖测试座
PCB模块
测试架
是一种用于测试电子产品的工具,它可以为PCB电路板上的各个模块提供稳定的电源和信号输入,并能够采集输出信号进行分析。通过使用
测试架
,可以在保...
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BGA641封装手机CPU
测试架
测试治具夹具工装0.4小间距
手机CPU芯片BGA641封装
测试架
测试治具
BGA641,间距0.4,尺寸12.8*12.8,
手机CPU,最高频率1.5GHZ,温度电流无要求
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定制SOP36-0.65电源芯片翻盖旋钮
测试架
治具夹具socket工装
SOP36
测试架
特点:
采用金属铜块导热;
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位...
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定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具
测试架
socket
QFP100芯片
测试架
简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架
类型:翻盖旋钮式
接触方式:双...
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DDR3x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试治具测试夹具
产品简介:适用与DDR3,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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DDR4x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试治具测试夹具
产品简介:适用与DDR4,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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定制SOP48封装芯片翻盖探针
测试架
测试治具socket烧录座
产品简介:客户提供PCBA测试底板,拆卸SOP48封装芯片改装而成。
适配芯片:SOP封装,48PIN,间距0.5mm,含引脚尺寸12.6*8.3mm
温度常温
每单PIN电流过1A内
频率在1000MZH
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赛灵思 FBGA484 功能性测试治具
测试架
检测夹具 测试socket
BGA484
测试架
测试治具测试夹具
性能参数:
接触方式:pogoPIN
机械寿命:10万+
工作频率:700MHZ;
工作温度:常温;
单PIN电流:1A;
接触阻抗:≤10...
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定制2.5GHZ-WIFI邮票孔模块
测试架
治具夹具测试座socket
产品简介:客户提供产品底板拆装而成
1、应用:2.5GZH-WiFi邮票孔模块,44PIN
2、射频要求:2.5GHZ,回损-15db,插损-db
3、电流:1A以内
4、温度:常温环境
5、寿命:10W+
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定制BGA676-1.0测试治具
测试架
夹具socket测试座
测试架
(夹具)特点:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试...
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定制QFP100-0.5 14x14合金翻盖旋钮测试治具
测试架
治具
QFP芯片
测试架
简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架
类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测...
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邮票孔模块 测试座 夹具 治具 工装
测试架
产品简介:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,...
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定制BGA48翻盖探针
测试架
测试治具夹具工装socket
产品简介:
①根据客户提供的产品来设计固定被测芯片socket,用于免焊接快速验证测试芯片功能。
②采用铝合金夹板,表层氧化绝缘,经久耐磨。
③核心精密针板采用PEEK工程材料CNC加工而成,精准度可达...
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88E1111 MARVELL测试治具
测试架
QFN96测试夹具socket
产品简介:88E1111 MARVELL 芯片QFN96封装测试治具(光通信接头)
性能参数:
工作频率:2.5GHZ;
工作温度:40℃~85℃;
单PIN电流:1A;
功率:无要求;
接触阻抗:≤100mΩ
射...
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摄像头IC
测试架
微控制器测试治具 BGA192测试夹具
产品简介:针对摄像头IC进行筛选测试。
芯片规格:BGA封装,192PIN,简介0.65mm,尺寸14*14mm。
产品特点:
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊...
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定制QFP100-0.65翻盖探针
测试架
20*14mm测试治具夹具
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
芯片规格:QFP封装100脚、pitch0.65mm,本体尺寸14*20mm。
测试架
类型:翻盖旋钮式
接触方...
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BGA\FBGA\PGA
测试架
544ball 测试治具 夹具 翻盖旋钮探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试BGA544封装的CPU。
测试架
类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:1.2Ghz
特点:
1:采用翻盖式...
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定制 QFN40 MCU
测试架
测试治具 测试夹具 测试工装 socket 探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,...
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定制QFN64翻盖探针测试治具
测试架
测试座socket
产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果...
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