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邮票孔模块18pin-1.1mm-10.19.7mm翻盖探针测试座
邮票孔模块测试座规格参数:
品牌:HMILU
邮票孔模块引脚:18pin
邮票孔模块引脚间距:1.1mm
邮票孔模块尺寸:10.1*9.7mm
更多 +
SOP24pin-0.64mm-3.9x6.0mm合金翻盖探针芯片测试座
SOP24pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:SOP
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.64mm
适配芯片尺寸:3.9*6.0mm
更多 +
QFP52pin-0.65mm-10x10mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座
QFP52pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFP
芯片引脚:52pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:10*10mm
更多 +
光耦芯片14pin-1.27mm-22x2mm合金旋钮翻盖测试座
光耦14pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片引脚:14pin
引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:22*27mm
芯片厚度:5mm
更多 +
LGA30pin-0.5mm-5x6mm塑胶翻盖芯片测试座
LGA30pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:30pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:5*6mm
更多 +
BGA216pin-0.8mm-16x16mm合金旋钮翻盖芯片测试座
BGA216pin芯片测试
治具
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:216pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:16*16mm
更多 +
LCC20pin-2.54mm-21.7x21.7mm合金翻盖芯片探针测试座
LCC20pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:2.54mm
适配芯片尺寸:21.7*21.7mm
更多 +
蝶形管壳封装46pin-1.1mm-25x24合金翻盖芯片测试
治具
蝶形管壳封装48pin芯片测试夹具规格参数:
品牌:HMILU
封装形式;蝶形管壳
芯片引脚:46pin
芯片引脚间距:1.1mm
适配芯片尺寸:25*24mm
更多 +
SOP20pin-0.5mm-5.1x4.9-014-KNH芯片老化测试夹具
SOP20pin芯片老化测试夹具规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:SOP
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:(5.1*4.9mm)/(6.4*4.4mm)/(4.9*7.1mm)
更多 +
QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座
QFN24pin芯片老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
更多 +
模块21pin-0.63mm-13.5x5mm合金旋钮翻盖测试座
模块21pin测试座规格参数信息:
品牌:HMILU
引脚:21pin
模块引脚间距:0.63mm
适配模块尺寸:13.5*5mm
更多 +
BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座
BGA25pin电源芯片老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:25pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:6.25*6.25mm
更多 +
QFN40pin-0.4mm-6x4mm塑胶翻盖芯片测试座
QFN40pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:40pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:6*4mm
更多 +
LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座
LTM4644电源芯片BGA77pin老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
电源芯片封装形式:BGA
电源芯片引脚:77pin
电源芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:15*9mm
更多 +
BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座
BGA144pin电源芯片老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
电源芯片封装形式:BGA
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配电源芯片尺寸:15*15mm
更多 +
QFN20pin-0.65mm-5X5mm开尔文合金翻盖测试座
QFN20pin芯片开尔文测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:5*5mm
更多 +
开关电源芯片DFN4pin-5.5mm-014-KNL(8X3.8mm)老化测试座
开关电源芯片DFN4pin老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:4pin
芯片引脚间距:5.5mm
适配芯片尺寸:8*3.8mm
更多 +
TO252-5L-1.27(本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座
TO252-5L探针老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TO252
引脚:5pin
引脚间距:1.27mm
适配尺寸:5.5*6.5mm
更多 +
DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座
DFN4pin晶振老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:DFN
引脚数:4pin
引脚间距:0.85mm
适配尺寸:6.9*1.4mm
更多 +
探测器件82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖测试座
探测器件82pin测试座规格参数:
品牌:HMILU
探测器件pin脚:82pin
探测器件引脚间距:1.0mm
探测器件尺寸:45*48mm
更多 +
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