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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制7050-6pin-2.54mm塑胶翻盖晶振测试座

7050晶振测试座规格参数：
晶振引脚：6pin
晶振引脚间距：2.54mm
适配晶振尺寸：7*5mm
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: 7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

7050-4晶振老化座特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：PEI；
③接触方式及材质：单头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：PEI；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；更多 +

: SMT贴片晶振7050-4pin翻盖探针测试座

规格尺寸
一、型号: 7050(7.0*5.0)-4PIN
二、脚位:4pin
三、芯片尺寸:7.0*5.0mm
贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
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[鸿怡动态]用于贴片晶振老化编程的晶振测试座2019年02月15日 15:44: 今天向大家详细介绍用于贴片晶振老化、编程、测试的晶振测试座。晶振测试座，是鸿怡电子一直以来比较重要的产品系列之一。一般用于晶振生产厂家对晶振进行老化、测试以及晶振的编程等测试座产品以晶振尺寸来命名，如：7050、5032、3225、2520、2016、1216等等。我们总结了几个客户比较关注的问题点，现总结如下，供客户参考： 1、采购晶振测试座时，该如何选型？晶振测试座的选型可以参考IC芯片，通过晶振的长、宽、厚度以及PIN脚数量来选择合适的测试座; 2、测试座的交期; 阅读（96）标签：

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