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[新闻中心]芯片测试中的高效连接器：芯片 RF 测试、同轴测试、三温测试 — 三合一芯片测试座2025年06月30日 10:48: 在芯片测试的复杂领域中，测试设备的性能优劣对测试结果起着决定性作用。随着芯片技术的飞速发展，芯片功能日益强大，结构愈发复杂，对测试设备提出了更高要求。其中，芯片测试座作为芯片与测试设备间的关键连接桥梁，其性能直接影响测试结果的准确性与可靠性。在众多芯片测试场景中，芯片 RF 测试、同轴测试以及三温测试至关重要，而能够集成这三种功能的三合一芯片测试座，正成为行业关注焦点，为芯片测试带来更高效率与精准度。芯片 RF 测试：高频信号下的精准考验 RF 测试的重要性在当今通信技; 阅读（5）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架