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鸿怡电子芯片测试座工程师3分钟带您了解国产存储芯片全维度测试技术解析:从导通到可靠性测试综合验证
2025年04月08日 15:44
随着国产存储芯片在物联网、智能终端、数据中心等领域的广泛应用,其性能与可靠性已成为产业升级的核心驱动力。存储芯片导通测试、功能性测试、高性能测试、可靠性测试、逻辑测试构成了存储芯片全生命周期质量验证的关键环节。本文结合鸿怡电子存储芯片测试座(IC Test Socket)的核心技术,系统解析国产存储芯片的测试逻辑、标准与实践应用,探讨国产测试设备在存储产业链中的创新突破。 一、导通测试:电气连接的基石 1. 定义与目标 导通测试用于验证存储芯片焊球(如BGA封装)与基板
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