当前位置：
首页 »
全站搜索 »
搜索：芯片ictc测试：从核心技术到自加热芯片测试座的关键应用
- [新闻中心]芯片ICTC测试：从核心技术到自加热芯片测试座的关键应用2025年07月23日 10:14
- 一、ICTC测试的核心框架与测试项 ICTC（In-Circuit Test and Characterization）测试是半导体制造中确保芯片电气性能与功能完整性的核心环节，其测试体系涵盖以下维度： 1.电气参数测试 静态特性： I-V曲线扫描：使用半导体参数分析仪（如Keysight B1500）测量漏电流（Ioff）、阈值电压（Vth）等参数，精度需达pA级。例如，车规级芯片要求Ioff在125℃时1nA。 接触电阻测试：通过四线开尔文法（Kelvin Probe）
-
阅读（2）
标签：产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架
扫一扫
