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» 搜索:老化座
BGA247pin-0.4mm合金旋钮翻盖式探针芯片老化测试座socket
BGA芯片
老化座
(老炼夹具)特性
①结构:旋钮翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤...
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LCC44pin-0.5mm塑胶翻盖式弹片老化测试座socket
LCC44pin芯老炼夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:LCC/QFN/模块
芯片引脚:44pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:6.3*6.3*1.88mm
接触介质:弹片/探针
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SOP33pin-1.27mm合金翻盖式芯片老化测试座socket
SOP33pin芯片老练测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:SOP
芯片引脚:33pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:40.64*18.69mm
接触介质:探针
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QFN88pin-0.4mm-10×10mm合金旋钮翻盖式芯片老化测试座socket
QFN88pin芯片老练夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:88pin
芯片引脚中心间距:0.4mm
适配芯片尺寸:10*10mm
接触介质:探针
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DFN8pin-1.27mm-3.8x3.8mm一拖四工位塑胶翻盖式芯片老化测试座
DFN8pin芯片老练夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片/器件封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
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SOP16pin-1.27mm合金旋钮翻盖式式探针测试座socket
SOP16pin芯片测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:SOP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:7.44*12.88mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻...
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TO-13pin-0.75mm塑胶翻盖式功率器件老化测试座socket
功率器件TO-13pin老化测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
功率器件封装形式:TO
器件引脚:13pin
器件引脚间距:0.75mm
器件尺寸:10.3*9mm
接触介质:探针
...
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QFN56pin-0.4mm合金翻盖式探针芯片测试座socket
QFN56pin芯片测试座规格参数信息:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:56pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:7*7mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式...
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QFN32pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket
QFN32pin芯片测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:5*5mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测...
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BGA63pin-0.5mm合金旋钮翻盖式探针芯片
老化座
socket
BGA63pin芯片老化测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:63pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4.8*3.8mm
接触介质:探针
老化测试座结构:旋...
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DFN8pin-1.27mm-5.99x5.99mm塑胶翻盖式探针芯片测试座socket
DFN8pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:5.99*5.99mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式...
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QFN33pin-0.5mm/QFN29pin-0.5mm一拖二工位合金翻盖式芯片测试治具
QFN芯片测试治具规格参数信息:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:33pin+29pin
适配芯片尺寸:5*4.5mm-5*5mm
接触介质:探针
测试治具结构:一拖二工位翻盖式
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