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[新闻中心]突破微间距:鸿怡电子开尔文弹簧探针结构在WLCSP芯片测试座中的创新应用
2025年03月12日 11:01
随着半导体封装技术向高密度、微型化发展,晶圆级芯片封装(WLCSP)因其体积小、性能优的特点,成为消费电子、汽车电子等领域的主流选择。然而,WLCSP芯片的触点间距缩至0.35mm甚至更低,对测试座的精度与可靠性提出了更高要求。开尔文弹簧探针结构为核心,结合鸿怡电子等国产芯片测试座厂商的技术,探讨其在WLCSP芯片测试中的关键应用与创新突破。Kelvin 探针头设计应用于标准阵列测试插座或Volta 晶圆级别探针头( Volta WLCSP) ,提供稳健、易于维护、长寿命的测
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