全站搜索 - 从充电宝召回事件看电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心作用

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：从充电宝召回事件看电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心作用

[新闻中心]从充电宝召回事件看电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心作用2025年07月09日 10:54: 近期充电宝召回事件（如某品牌召回超120万台产品）暴露出电池电芯与电源芯片可靠性测试的关键作用。这一事件的核心原因是上游电芯供应商某公司在生产过程中违规变更原材料（如正负极隔膜材料），导致电芯内部混入金属异物，多次充放电后可能引发热失控甚至燃烧。而电池电芯、电源管理芯片（PMIC）的可靠性测试不足则加剧了风险，例如未能有效监测电芯状态或触发保护机制。一、电池电芯、电源芯片可靠性老化测试的核心挑战 1、材料一致性与工艺控制电芯生产中，正; 阅读（18）标签：产品|新闻|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架