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WCSP封装合金翻盖芯片测试座详细信息/Detailed Information

WCSP封装合金翻盖芯片测试座

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产品数据:

1、应用Pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等

2、材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/peek+CeramIC

3、适用封装:BGA/QFP/QFN/WCSP等;

4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top;

5、接触方式:探针;


产品特点:

1、高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;

2、采用进口镀金探针和防静电材料(TORLON,PEI,PPS和PEEK)

3、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试

4、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;

5、进口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。

6、可根据客户要求定制各种IC测试夹具。

例图:


WCSP芯片测试座1

WCSP测试座3

WCSP测试座4

采购:WCSP封装合金翻盖芯片测试座

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