SM2246EN主探转BGA272一拖二SSD闪存测试治具|SSD固态硬盘测试方案

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SM2246EN主探转BGA272一拖二SSD闪存测试治具

该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。

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BGA272翻盖探针一拖二测试座

BGA272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。

产品简介
产品用途:编程座、测试座，对BGA272的IC芯片进行测试、读取数据
适用封装:BGA272引脚间距0.8mm
特点:无需焊接，节约成本（此款免焊接，Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上）

SM2256K主控