全志开发板EMMC测试治具|IC测试治具

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全志开发板EMMC测试治具

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产品详情

全志开发板EMMC测试治具

一，产品特点及性能参数：

※ 结构全新设计，相比于之前的旧式结构造型美观，携带轻巧方便，布局更加紧凑，符合人机操作。
※ 采用手动翻盖式结构，操作方便，测试效率高；
※ 常规采用转接板+SOCKET的结构，可以有效减少对于客户PCB的损伤，同时使结构标准化，可以提高产品的稳定性。
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，生产效率高；
※ 采用浮板结构，对于IC有球无球都能测试
※ 探针材料：铍铜(标准)，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。

※ 绝缘材料： FR4

二　测试
（1）选择和ＩＣ尺寸相同的限位框按方向装在浮板上(标配限位框为 14X18，11.5X13 12X16 12X18 )

（2）把IC按方向平放入限位框内,合上socket上盖。选择相对应的电压,本测试治具默认电压为5.0V。
（3）接通电源后，打开电源开关，起动开机按键，便可进行测试。
（4）测试完成后，要关闭电源开关，才能打开座头，取出IC，然后在重复上述操作步骤进行测试。
产品服务：
※三个月免费保修（人为损坏除外）。
※ 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的技术支持。
※ 待测芯片PIN数较多的时候，手动翻盖无法保证下压力度，因而采用旋压式结构，可以有效保证压力的稳定性。
※ 材料：PPS 耐磨性材料
我司可订做各种手机芯片的测试治具，包括手机CPU，字库，电源，WIFI，蓝牙芯片等各种芯片的测试治具，最小间距可做到0.25mm.