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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.8转接座QFN84*3mm下压探针老化座
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下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！

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DFN8-0.8（4*3)下压探针老化座

产品简介

A、产品用途:转接座、编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行老化测试

B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距0.8mm

C、测试座:WSON\QFN\DFN8(4*3)-0.8

D、特点:采用U型顶针，接触稳定，性能更稳定

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、寿命长（翻盖结构10万次）

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

G、IC进行有锡球、无锡球不同测试，，交期快，提高使用效率

WSON8芯片测试座 DFN8编程座 QFN8芯片转换座

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