鸿怡电子生产定制的定制DFN4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
产品简介:
DFN封装电容老化测试座(Burn-in-socket)
老化测试温度:+85°
需要过瞬时大电流:3000mA,瞬时持续时间:0.005ms
无频率测试要求
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金