定制DFN12-0.4 2.5x4晶振塑胶翻盖测试座

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » QFN老化座 » 定制DFN12-0.4 2.5x4晶振塑胶翻盖测试座

定制DFN12-0.4 2.5x4晶振塑胶翻盖测试座详细信息/Detailed Information

prevnext

查看全部大图

定制DFN12-0.4 2.5x4晶振塑胶翻盖测试座

产品简介：适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点：
①我司独有设计生产的老化探针，成本低，老化电气性能温度，寿命高；
②采用CNC加工方式，提供芯片的规格图纸即可设计；
③采用镀金探针接触稳定、锡球损伤低，探针可单独易维修；
④核心部件采用PEEK工程塑胶材质、表面光滑不卡顿；
⑤外壳采用铝合金材质，通过阳极硬氧处理，座子手感好、绝缘、耐磨；

订购热线：13631538587

产品详情

塑胶探针测试座

1、工作温度：-40℃~125℃@3000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：PEI、PPS；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni；
4、单PIN额定电压&电流：直流12V&1.0A；
5、耐压：AC700V@1min；
6、接触电阻：≤100mΩ；
7、绝缘电阻：1000MΩ Min At DC 500V ；
8、频率≤800MHZ；
9、机械寿命：≥10W次；
DFN12老化socket