鸿怡电子生产定制的BGA84pin-0.7mm-9.1x9.1mm合金翻盖芯片测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用BGA84pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,适用于芯片功能性测试
BGA84pin芯片测试座产品简介:
芯片测试速率:2.5Gbps
芯片测试电流:1A
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金