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定制BGA132-0.4合金翻盖探针测试座老化座夹具治具socket详细信息/Detailed Information

定制BGA132-0.4合金翻盖探针测试座老化座夹具治具socket

BGA132测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
订购热线:13631538587
立即咨询
BGA132翻盖测试座====
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定; 
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位; 
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠; 
高精度的定位槽,保IC定位精确; 
采用浮板结构有球无球均能测试;
探针可更换,维修方便,成本低; 
KEEP工程绝缘材料制作; 
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离); 

产品服务: 
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。 
保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。 

可以免费提供相关的技术支持。

BGA132测试socket

BGA132-0.4老化座

BGA132-0.4测试夹具

BGA132-0.4测试座

BGA132-0.4烧录座

采购:定制BGA132-0.4合金翻盖探针测试座老化座夹具治具socket

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